| Grundlagenforschung innerhalb der Materialwissenschaft und der Nanotechnologie benötigt Untersuchungen unten zur Atomstufe. Die ² Tecnai G Reihe von Durchstrahlungselektronenmikroskopen stellt hochauflösendes 2D und Darstellung 3D und Analyse durch eine hohe Stufe der Mikroskopautomatisierung und -intelligenz zur Verfügung. Aufgebaut auf mehr als 50 Jahren Erfahrung in der Elektronenmikroskopie, ² Tecnai G kombinieren Mikroskope moderne Tagestechnologie mit den zwingenden Nachfragen einer innovativen wissenschaftlichen Gemeinschaft. ² Tecnai G Sphera-Merkmale Die bedienungsfreundliche ² Tecnai G Serie wird konstruiert, um hochwertige Bilder sicherzustellen und die Arbeit des Mikroskopbenutzers zu ermöglichen. Die ² Tecnai G Serie hat eine hohe Stufe der Automatisierung, ohne volle Benutzerregelung zu begrenzen. Das ² Sphera Tecnai G ist zu den Neuanmeldungen wie EFTEM und/oder Cryoelektron Mikroskopie betriebsbereit. Die Anlage hat einen sehr hohen Beugungsöffnungswinkel, der es geeignet für schwachen Träger, das Kippen und andere analytische Experimente macht. Verbesserungen und Zukunft-Anforderungen In der Welt der Forschung, treten Entwicklungen an einem hohen Schritt auf. Die Tecnai-Konstruktionsprinzipien stellen die Anwendungsflexibilität für heutigen Tag und morgen sicher und machen ihn einfach, Neuanmeldungen hinzuzufügen und Funktionalität auszubauen. FEI-Firma arbeitet nah mit der wissenschaftlichen Gemeinschaft, um seinen Bedarf besser zu verstehen zusammen und engagierte Hilfsmittel zusammen entwickel, um zu helfen, das komplexe Verhältnis von Materialien zu strukturieren und von Analyse zu verstehen und zu erklären. ² Tecnai G Mikroskope helfen, ein ausführliches Verständnis einer Welt der abnehmenden Abmessungen zu entwickeln: heute und in der Zukunft. 
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