在基本級別的透射電鏡術高分辨率使用 Tecnai G ² Polara 的材料和納米技術研究的從 FEI 公司

背景

在材料學和納米技術內的根本研究要求調查下來對這個基本級別。 傳輸電子顯微鏡 Tecnai G ² 系列通過高級顯微鏡自動化和智能提供高分辨率第 2 和 3D 想像和分析。 編譯在超過 50 年經驗在電子顯微鏡術, Tecnai G ² 顯微鏡與創新科學界的嚴密需求結合現代日技術。

關鍵利益

  • 下來專用的 cryo 儀器對液體氦氣溫度
  • 自動化的二重掀動 cryo X線體層照相術在高傾斜角
  • 在 cryo 溫度的六個範例並行調用在真空
  • 在低溫的優化階段穩定性
  • 大反差雙透鏡
  • 迅速加速度電壓切換

Tecnai G ² Sphera 功能

易用 Tecnai G ² 串聯被設計保證優質圖像和實現顯微鏡用戶的工作。 Tecnai G ² 串聯有高級自動化,无需限制充分的用戶控制。 Tecnai G ² Polara 準備好像 EFTEM 的新建應用程序 (為分析功能),或者遙控操作或者一個自動開口系統 (為進一步自動化)。

升級和遠期需求

在研究世界,發展發生在高節奏。 Tecnai 設計原理為今天保證應用靈活性和明天,使它容易添加新建應用程序和升級功能。 FEI 公司與科學界嚴密地合作更好瞭解其需要和共同發展專用的工具幫助瞭解和解釋材料構建和分析複雜關係。

Tecnai G ² 顯微鏡幫助建立對越來越少的維數世界的詳細瞭解: 今天和在將來。

來源: FEI 公司
關於此來源的更多信息请請拜訪 FEI 公司

Date Added: Apr 14, 2005 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 01:15

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