場致發射傳輸電子顯微鏡用於所有實驗室鍵入 Tecnai G ² 從 FEI 公司的 F20 S-TWIN


背景

Tecnai 200 kV 場致發射 TEM (傳輸電子顯微鏡) 是任何類型多用戶實驗室的一個耕馬顯微鏡。 傳輸電子縮微本是獲得的高放大至高無上的重要和從材料的高分辨率第 2 和 3D 信息,并且 Tecnai G ² 串聯顯微鏡,編譯在超過 50 年經驗在電子顯微鏡術,在材料學和納米技術方面啟用根本研究。

關鍵利益

  • 唯一,優化用戶接口
  • 非常好的細致探測性能
  • 應用軟件技術支持
  • 先進的電子光學設計
  • 迅速模式切換
  • 迅速加速度電壓切換

Tecnai G ² F20 S-TWIN 功能

易用 Tecnai G ² 保證優質圖像和被設計實現每個顯微鏡用戶工作。 其先進的視窗協議和註冊表允許用戶及時地完成他們的研究或分析。 它也有高級自動化和智能,无需限制有經驗的用戶可能希望有的完全控制。

X線體層照相術應用

Tecnai G ² F20 S-TWIN 準備好像 EDS、詞根和 3D 想像的新建應用程序使用 X線體層照相術 (與 Xplore3D)。 這個系統有一個非常高衍射作用角,使適用於弱的射線,掀動和其他分析實驗。 其非常好的想像性能和分析功能使用肖特基 FEG 電子來源做它一臺多才多藝的儀器為多數研究實驗室。

升級和遠期需求

在研究世界,發展發生在高節奏。 Tecnai 設計原理為今天保證應用靈活性和明天,使它容易添加新建應用程序和升級功能。 FEI 公司與科學界嚴密地合作更好瞭解其需要和共同發展專用的工具幫助瞭解和解釋材料構建和分析複雜關係。

Tecnai G ² 顯微鏡幫助建立對越來越少的維數世界的詳細瞭解: 今天和在將來。

來源: FEI 公司
關於此來源的更多信息请請拜訪 FEI 公司

Date Added: Apr 14, 2005 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 01:15

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