Microscopio Electrónico De Exploración Con el Alto Rendimiento Y Tres Modos de la Proyección De Imagen, Los Quantums SEM de la Compañía de FEI

Antecedentes

Los Quantums SEM son un alto rendimiento versátil, microscopio electrónico de exploración del inferior-vacío con una fuente del electrón del tungsteno, con tres modos de la proyección de imagen (alto vacío, vacío inferior y ESEM) para acomodar la gama más amplia de muestras de cualquier sistema de SEM.

Ventajas Dominantes

  • Transición Inconsútil de la “punta y del tecleo” entre los modos de la proyección de imagen
  • Vacío inferior Superior, kilovoltio inferior de proyección de imagen
  • Electrón secundario Simultáneo (SE) y proyección de imagen retrorreflejada (BSE) del electrón en modo inferior del vacío
  • Tiene En Cuenta experimentos dinámicos "in-situ"
  • Proyección de imagen superficial (SE) Verdadera en todos los modos y voltajes del vacío
  • Fácil de usar, cuatro cuadrantes/única interfaz de usuario del cuadrante

Características y Uso

Los Quantums son fáciles de utilizar. Su visualización de imagen del cuatro-cuadrante proporciona simultáneamente a la distribución superficial de la información y de la fase con la proyección de imagen viva del electrón secundario (SE) y de las imágenes de electrón (BSE) retrorreflejadas. Un único clic del ratón cambia modos de la proyección de imagen.

Los detectores inferiores del vacío no son sensibles a la luz generada durante la calefacción de la muestra, así que los experimentos dinámicos "in-situ" de la calefacción pueden estar vivos reflejado y registrado en las temperaturas hasta 1500° C.

Los Quantums son un sistema versátil, que se puede equipar de los diversos sistemas analíticos tales como EDS, WDS y EBSD.

Tallas

Los Quantums SEM están disponibles con tres diversas tallas del escenario: 6" (150 milímetros), 4" (100 milímetros) o 2" (50 milímetros).

Fuente: Compañía de FEI
Para más información sobre esta fuente visite por favor a la Compañía de FEI

Date Added: Apr 15, 2005 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 01:48

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