高性能および 3 つのイメージ投射モード、 FEI の会社からの量 SEM の走査型電子顕微鏡

背景

量 SEM は多目的な高性能、最も広い範囲のあらゆる SEM システムのサンプルを取り扱う 3 つのイメージ投射モード (高真空、低い真空および ESEM) のタングステンの電子ソースの低真空の走査型電子顕微鏡、です。

主な利点

  • イメージ投射モード間の継ぎ目が無い 「ポイントおよびクリック」の転移
  • 優秀で低い真空、イメージ投射低い kV の
  • 低い真空のモード (SE)の同時 (BSE)二次電子そしてバック分散させた電子イメージ投射
  • in-situ ダイナミックな実験を可能にします
  • すべての真空の (SE)モードおよび電圧の本当の表面イメージ投射
  • 使いやすい、 4 つの象限儀/単一の象限儀のユーザー・インターフェース

機能および使用

量は使いやすいです。 その 4 象限儀の画像表示は二次電子およびバック分散させた電子画像の生きているイメージ投射によって同時に表面情報 (SE)および段階の分布を (BSE)提供します。 単一のマウスクリックはイメージ投射モードを切替えます。

低い真空の探知器はサンプル暖房の間に生成されるライトに敏感ではないです従って in-situ ダイナミックな暖房の実験は 1500° C. まで温度に視覚化された、記録された生きている場合もあります。

量は EDS、 WDS および EBSD のようなさまざまで分析的なシステムと装備することができる多目的なシステムです。

サイズ

量 SEM は 3 つの段階のサイズと使用できます: 6" (150 の mm)、 4" (100 つの mm) または 2" (50 の mm)。

ソース: FEI の会社
このソースのより多くの情報のために FEI の会社を訪問して下さい

Date Added: Apr 15, 2005 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 01:30

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