有高性能和三個想像模式的,從 FEI 公司的數量 SEM 掃描電子顯微鏡

背景

數量 SEM 是多才多藝的高性能,低真空有鎢電子來源的掃描電子顯微鏡,在適應大範圍的三個想像模式 (高真空、低真空和 ESEM) 下所有 SEM 系統範例。

關鍵利益

  • 在想像模式之間的無縫的 「點和單擊」轉移
  • 優越低真空,低 kV 想像
  • 同時二次電子 (SE)和後面分散的電子 (BSE)想像在低真空模式下
  • 允許原地動態實驗
  • 真的表面 (SE)想像在所有真空模式和電壓下
  • 易用,四個象限/唯一象限用戶接口

功能和使用

數量是易用的。 其四象限圖像顯示通過二次電子和後面分散的電子圖像活想像同時提供表面 (SE)信息和階段 (BSE)配電器。 唯一鼠標點擊切換想像模式。

低真空探測器對在範例熱化期間被生成的光不是敏感的,因此原地動態熱化實驗可以印象和記錄的活在溫度至 1500° C。

數量是一個多才多藝的系統,可以用多種分析系統裝備例如 EDS、 WDS 和 EBSD。

範圍

數量 SEM 對三個不同階段範圍是可用的: 6" (150 mm), 4" (100 mm) 或 2" (50 mm)。

來源: FEI 公司
關於此來源的更多信息请請拜訪 FEI 公司

Date Added: Apr 15, 2005 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 01:15

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