Microscopio Electrónico De Exploración Para Acomodar La Gama Más Amplia de las Muestras Para Cualquier Sistema de SEM; El Quan

Antecedentes

Los Quantums FEG SEM son un microscopio electrónico de alta resolución, inferior versátil de exploración del vacío con tres modos (alto vacío, vacío inferior y ESEM) para acomodar la gama más amplia de muestras de cualquier sistema de SEM.

Ventajas Dominantes

·         Transición Inconsútil de la “punta y del tecleo” entre los modos de la proyección de imagen

·         Vacío inferior Superior, kilovoltio inferior de proyección de imagen

·         Electrón secundario Simultáneo (SE) y proyección de imagen retrorreflejada (BSE) del electrón en modo inferior del vacío

·         Ultraestable para las aplicaciones analíticas (EDX, EBSD, WDX)

·         Fácil de usar, cuatro cuadrantes/única interfaz de usuario del cuadrante

·         Proyección de imagen Opcional del VÁSTAGO

Características y Uso

Los Quantums son fáciles de utilizar. Su visualización de imagen de cuatro cuadrantes proporciona simultáneamente a la distribución superficial de la información y de la fase con la proyección de imagen viva del electrón secundario (SE) y de las imágenes de electrón (BSE) retrorreflejadas. Un único clic del ratón cambia modos de la proyección de imagen.

Los detectores inferiores del vacío no son sensibles a la luz generada durante la calefacción de muestras, así que los experimentos dinámicos "in-situ" de la calefacción pueden estar vivos reflejado y registrado en las temperaturas hasta 1500° C. Los Quantums FEG son un sistema versátil, que se puede equipar de los sistemas analíticos tales como EDS, WDS y EBSD, y un detector del VÁSTAGO para el brillante-campo y la proyección de imagen del oscuro-campo de muestras.

Tallas

Los Quantums FEG están disponibles con tres diversas tallas del escenario: 6" (150 milímetros), 4" (100 milímetros) o 2" (50 milímetros).

Fuente: Compañía de FEI

Para más información sobre esta fuente visite por favor a la Compañía de FEI

 

Date Added: Apr 15, 2005

Last Update: 11. January 2012 14:54

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