Microscope Électronique de Lecture Pour Faciliter L'Éventail D'Échantillons Pour Tout Système de SEM ; Les Tranches De Temps FEG - Données de Fournisseur de Compagnie de FEI

Mouvement Propre

Les Tranches De Temps FEG SEM est un microscope électronique de haute résolution et faible versatile de lecture d'aspirateur avec trois modes (vide poussé, aspirateur faible et ESEM) pour faciliter l'éventail d'échantillons de n'importe quel système de SEM.

Avantages Principaux

·         Passage Sans Joint de « remarque et de claquement » entre les modes de représentation

·         Aspirateur faible Supérieur, kilovolt faible de représentation

·         Électron secondaire Simultané (SE) et représentation rétrodiffusée (BSE) d'électron en mode faible d'aspirateur

·         Ultra-stable pour les applications analytiques (EDX, EBSD, WDX)

·         Facile À Utiliser, quatre quadrants/interface utilisateur unique de quadrant

·         Représentation Optionnelle de CHEMINÉE

Caractéristiques techniques et Utilisation

Les Tranches De Temps est facile à utiliser. Son affichage d'image de quatre quadrants fournit simultanément la distribution extérieure de l'information et de phase par la représentation sous tension de l'électron secondaire (SE) et des images d'électron (BSE) rétrodiffusées. Un simple clic commute des modes de représentation.

Les détecteurs faibles d'aspirateur ne sont pas sensibles à la lumière produits pendant le chauffage des échantillons, ainsi les expériences dynamiques in-situ de chauffage peuvent être sous tension imagé et enregistré aux températures jusqu'à 1500° C. Les Tranches De Temps FEG est un système versatile, qui peut être équipé des systèmes analytiques tels que l'EDS, le WDS et l'EBSD, et un détecteur de CHEMINÉE pour la lumineux-zone et la représentation de sombre-zone des échantillons.

Tailles

Les Tranches De Temps FEG est disponible avec trois tailles différentes de stade : 6" (150 millimètres), 4" (100 millimètres) ou 2" (50 millimètres).

Source : Compagnie de FEI

Pour plus d'informations sur cette source rendez visite s'il vous plaît à la Compagnie de FEI

Date Added: Apr 15, 2005 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 01:22

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask regarding this article?

Leave your feedback
Submit