适应大范围的扫描电子显微镜任何 SEM 系统的范例; 数量 FEG - 供应商数据由 FEI 公司

背景

数量 FEG SEM 是一个多才多艺的高分辨率,低真空扫描电子显微镜在适应大范围的三个模式 (高真空、低真空和 ESEM) 下所有 SEM 系统范例。

关键利益

·         在想象模式之间的无缝的 “点和单击”转移

·         优越低真空,低 kV 想象

·         同时二次电子 (SE)和后面分散的电子 (BSE)想象在低真空模式下

·         超稳定为分析应用 (EDX、 EBSD, WDX)

·         易用,四个象限/唯一象限用户接口

·         选项词根想象

功能和使用

数量是易用的。 其四个象限图象显示通过二次电子和后面分散的电子图象活想象同时提供表面 (SE)信息和阶段 (BSE)配电器。 唯一鼠标点击切换想象模式。

低真空探测器对在范例期间热化被生成的光不是敏感的,因此原地动态热化实验可以印象和记录的活在温度至 1500° C。 数量 FEG 是一个多才多艺的系统,可以用分析系统装备例如 EDS、 WDS 和 EBSD 和明亮域和范例黑暗域想象的一台词根探测器。

范围

数量 FEG 对三个不同阶段范围是可用的: 6" (150 mm), 4" (100 mm) 或 2" (50 mm)。

来源: FEI 公司

关于此来源的更多信息请拜访 FEI 公司

Date Added: Apr 15, 2005 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 01:13

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