適應大範圍的掃描電子顯微鏡任何 SEM 系統的範例; 數量 FEG - 供應商數據由 FEI 公司

背景

數量 FEG SEM 是一個多才多藝的高分辨率,低真空掃描電子顯微鏡在適應大範圍的三個模式 (高真空、低真空和 ESEM) 下所有 SEM 系統範例。

關鍵利益

·         在想像模式之間的無縫的 「點和單擊」轉移

·         優越低真空,低 kV 想像

·         同時二次電子 (SE)和後面分散的電子 (BSE)想像在低真空模式下

·         超穩定為分析應用 (EDX、 EBSD, WDX)

·         易用,四個象限/唯一象限用戶接口

·         選項詞根想像

功能和使用

數量是易用的。 其四個象限圖像顯示通過二次電子和後面分散的電子圖像活想像同時提供表面 (SE)信息和階段 (BSE)配電器。 唯一鼠標點擊切換想像模式。

低真空探測器對在範例期間熱化被生成的光不是敏感的,因此原地動態熱化實驗可以印象和記錄的活在溫度至 1500° C。 數量 FEG 是一個多才多藝的系統,可以用分析系統裝備例如 EDS、 WDS 和 EBSD 和明亮域和範例黑暗域想像的一臺詞根探測器。

範圍

數量 FEG 對三個不同階段範圍是可用的: 6" (150 mm), 4" (100 mm) 或 2" (50 mm)。

來源: FEI 公司

關於此來源的更多信息请請拜訪 FEI 公司

Date Added: Apr 15, 2005 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 01:15

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