初級練度の走査型電子顕微鏡、 FEI の会社からの量 HV


背景

量 HV SEM はタングステンの電子ソースの高性能の、エントリーレベルの走査型電子顕微鏡です。 それは慣習的なイメージ投射のためのすべての必要性を達成し、低圧の微視的分析そして優秀なパフォーマンスはあらゆるサンプルからの本当の表面情報を与えます。

主な利点

  • 使いやすい、 4 つの象限儀/単一の象限儀のユーザー・インターフェース
  • イメージ投射優秀で低い kV の
  • 同時二次電子 (SE)およびバック分散させた電子 (BSE)イメージ投射
  • 低い真空および ESEM の技術のアップグレードのために準備される

機能および使用

量は使いやすいです。 その 4 つの象限儀の画像表示は二次電子およびバック分散させた電子画像の生きているイメージ投射によって同時に表面情報 (SE)および段階の分布を (BSE)提供します。 単一のマウスクリックはイメージ投射モードを切替えます。

量 HV は低い真空および環境の真空のモードとアップグレードすることができまサンプル準備を禁止するか、または in-situ 物質的なテストを必要とするアプリケーションを可能にします。

それは EDS、 WDS および EBSD のようなさまざまで分析的なシステムと明るフィールドおよび暗フィールドサンプルイメージ投射のための茎の探知器と装備することができます。

サイズ

量 HV は 2 つの段階のサイズと使用できます: 4" (100 つの mm) または 2" (50 の mm)。

ソース: FEI の会社
このソースのより多くの情報のために FEI の会社を訪問して下さい

Date Added: Apr 15, 2005 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 01:30

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