初级扫描电子显微镜,从 FEI 公司的数量 HV


背景

数量 HV SEM 是有钨电子来源的一个高性能,初级的扫描电子显微镜。 它满足对常规想象的所有需要,并且微量分析和其非常好的性能在低压提供真的表面信息从所有范例。

关键利益

  • 易用,四个象限/唯一象限用户接口
  • 优越低 kV 想象
  • 同时二次电子 (SE)和后面分散的电子 (BSE)想象
  • 为与低真空和 ESEM 技术的升级做准备

功能和使用

数量是易用的。 其四个象限图象显示通过二次电子和后面分散的电子图象活想象同时提供表面 (SE)信息和阶段 (BSE)配电器。 唯一鼠标点击切换想象模式。

数量 HV 可以升级与一个低真空和环境真空模式,启用禁止范例准备或要求原地材料检验的应用。

它可以装备用多种分析系统例如 EDS、 WDS 和 EBSD 和用明亮域和黑暗域范例想象的一台词根探测器。

范围

数量 HV 对二个不同阶段范围是可用的: 4" (100 mm) 或 2" (50 mm)。

来源: FEI 公司
关于此来源的更多信息请拜访 FEI 公司

Date Added: Apr 15, 2005 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 01:13

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