初級掃描電子顯微鏡,從 FEI 公司的數量 HV


背景

數量 HV SEM 是有鎢電子來源的一個高性能,初級的掃描電子顯微鏡。 它滿足對常規想像的所有需要,并且微量分析和其非常好的性能在低壓提供真的表面信息從所有範例。

關鍵利益

  • 易用,四個象限/唯一象限用戶接口
  • 優越低 kV 想像
  • 同時二次電子 (SE)和後面分散的電子 (BSE)想像
  • 為與低真空和 ESEM 技術的升級做準備

功能和使用

數量是易用的。 其四個象限圖像顯示通過二次電子和後面分散的電子圖像活想像同時提供表面 (SE)信息和階段 (BSE)配電器。 唯一鼠標點擊切換想像模式。

數量 HV 可以升級與一個低真空和環境真空模式,啟用禁止範例準備或要求原地材料檢驗的應用。

它可以裝備用多種分析系統例如 EDS、 WDS 和 EBSD 和用明亮域和黑暗域範例想像的一臺詞根探測器。

範圍

數量 HV 對二個不同階段範圍是可用的: 4" (100 mm) 或 2" (50 mm)。

來源: FEI 公司
關於此來源的更多信息请請拜訪 FEI 公司

Date Added: Apr 15, 2005 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 01:15

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