Microscopio Electrónico de Exploración de la Emisión de Campo Para las Aplicaciones de la Nanotecnología; Nova NanoSEM - Supl.

Antecedentes

Después de la introducción acertada del puesto de trabajo de la nanotecnología de Nova NanoLab DualBeam SEM/FIB, la Compañía de FEI introduce las Herramientas siguientes de Nova para el miembro de la familia de Nanotech: Nova NanoSEM. Este instrumento es una solución dedicada de FEG-SEM para la caracterización ultraalta de la resolución de cargar y/o de contaminar muestras.

Ventajas Dominantes

·         El único de alta resolución verdadero del Mundo, inferior-vacío FEG-SEM.

·         La solución final de la caracterización para cargar y/o contaminar los nano-Materiales o los dispositivos.

·         resolución de la proyección de imagen de 1,8 nanómetro en el kilovoltio inferior en alto vacío y vacío inferior.

·         Software A Bordo de la generación del modelo con el generador de modelo digital 4kx4k.

·         Soluciones Opcionales de la química del gas para la escritura directa del haz electrónico de nanostructures.

·         La tecnología Piezoeléctrica del escenario entrega - hacia arriba a la exactitud muy alta muy alta de la repetibilidad de las magnificaciones de la proyección de imagen, a la desviación muy inferior del escenario y a la velocidad que activa intermitentemente del ciclón para la navegación de la muestra por movimiento del escenario.

Tecnología Magnética del Lente de la Inmersión

NanoSEM trae capacidades sin precedentes a los investigadores y a los reveladores en el laboratorio de la nanotecnología que trabaja con los nano-materiales no-conductores y que contaminan y/o - los dispositivos. Combina, por primera vez en la historia de la Microscopia Electrónica De la Exploración de la Emisión de Campo, tecnología magnética del lente de la inmersión con la tecnología Ambiental de SEM. Ambas estas tecnologías han sido capacidades de la tecnología de base de la Compañía de FEI desde el centro a los últimos años noventa. El efecto combinado rinde la resolución ultraalta única, posibilidades de la caracterización del inferior-vacío en un ambiente que suprima la acumulación de la carga en los materiales no-conductores o los componentes no-conductores de nano-dispositivos; además suprime la contaminación inducida del electrón-haz resultando de fases de tratamiento anteriores de la muestra.

Opciones Y Aplicaciones del Sistema

Las opciones del Sistema incluyen las herramientas específicas para Nanotech tal como software a bordo para la generación del modelo, un blanker electroestático de alta velocidad del haz, así como los sistemas de inyección del gas para la escritura directa del haz electrónico de nanostructures. Los resultados Impresionantes se han obtenido en campo común pero los materiales desafiadores de la nanotecnología por ejemplo:

·         Películas del Diamante

·         Nanotubes del Carbón

·         Cargas de GMR

·         Nanoparticles

·         Contenido inferior de /with k de los Cortes Transversales del Semiconductor

·         Electrónica Plástica

·         Materiales Porosos (e.g silicio)

·         Substratos De Cristal

·         Materiales Orgánicos

Tallas

Nova NanoSEM está disponible con tres diversas tallas del escenario: 6" (150 milímetros), 4" (100 milímetros) o 2" (50 milímetros).

Fuente: Compañía de FEI

Para más información sobre esta fuente visite por favor a la Compañía de FEI