Microscope Électronique de Lecture d'Émission De Champ Pour des Applications de Nanotechnologie ; Le Nova NanoSEM - Données de Fournisseur de Compagnie de FEI

Mouvement Propre

Après l'introduction réussie du poste de travail de nanotechnologie de NanoLab DualBeam SEM/FIB de Nova, la Compagnie de FEI introduit les prochains Outils de Nova pour le membre de la famille de Nanotechnologie : le Nova NanoSEM. Cet instrument est une solution dédiée de FEG-SEM pour la caractérisation ultra-haute de définition de charger et/ou de contaminer des échantillons.

Avantages Principaux

·         La seule haute définition vraie du Monde, faible-aspirateur FEG-SEM.

·         La solution éventuelle de caractérisation pour charger et/ou contaminer des nano-Matériaux ou des dispositifs.

·         définition de représentation de 1,8 nanomètre au kilovolt faible dans le vide poussé et l'aspirateur faible.

·         Logiciel Intégré de rétablissement de configuration avec le générateur de configuration 4kx4k digital.

·         Solutions Optionnelles de chimie de gaz pour l'écriture directe de faisceau d'électrons des nanostructures.

·         La technologie Piézo-électrique de stade livre - à l'exactitude très élevée très élevée de répétabilité d'agrandissements de représentation, au chassoir très faible de stade et à la vitesse pulsante du bas pour la navigation d'échantillon par mouvement de stade.

Technologie Magnétique de Lentille de Submersion

NanoSEM porte des capacités sans précédent aux chercheurs et aux révélateurs dans le laboratoire de nanotechnologie fonctionnant avec des nano-matériaux non-conducteurs et contaminants et/ou - des dispositifs. Il combine, pour la première fois dans l'histoire de la Microscopie Électronique de Lecture d'Émission De Champ, Technologie magnétique de lentille de submersion avec la technologie Environnementale de SEM. Ces deux technologies ont été des compétences de technologie de base de Compagnie de FEI depuis le milieu à la fin des années nonante. L'effet combiné fournit la seule définition ultra-haute, possibilités de caractérisation de faible-aspirateur dans un environnement qui supprime l'habillage de charge sur les matériaux non-conducteurs ou les composants non-conducteurs des nano-dispositifs ; de plus il supprime la contamination induite d'électron-poutre résultant des étapes de traitement précédentes d'échantillon.

Options Et Applications de Système

Les options de Système comprennent les outils particuliers pour la Nanotechnologie telle que le logiciel intégré pour le rétablissement de configuration, un blanker électrostatique ultra-rapide de poutre, ainsi que des systèmes d'injection de gaz pour l'écriture directe de faisceau d'électrons des nanostructures. Des résultats Impressionnants ont été obtenus sur le terrain communal mais les matériaux provocants de nanotechnologie comme :

·         Films de Diamant

·         Nanotubes de Carbone

·         Têtes de GMR

·         Nanoparticles

·         Teneur faible de /with k de Coupes Transversales de Semi-conducteur

·         L'Électronique En Plastique

·         Matériaux Poreux (par exemple silicium)

·         Substrats En Verre

·         Matières organiques

Tailles

Le Nova NanoSEM est disponible avec trois tailles différentes de stade : 6" (150 millimètres), 4" (100 millimètres) ou 2" (50 millimètres).

Source : Compagnie de FEI

Pour plus d'informations sur cette source rendez visite s'il vous plaît à la Compagnie de FEI

Date Added: Apr 15, 2005 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 01:22

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