Microscopio Elettronico A Scansione dell'Emissione di Campo Per le Applicazioni di Nanotecnologia; La Nova NanoSEM - Dati del Fornitore della Società di FEI

Sfondo

A Seguito di riuscita introduzione della stazione di lavoro di nanotecnologia di NanoLab DualBeam SEM/FIB della Nova, la Società di FEI presenta gli Strumenti seguenti della Nova per il membro della famiglia di Nanotech: la Nova NanoSEM. Questo strumento è una soluzione dedicata di FEG-SEM per la caratterizzazione ultraelevata di risoluzione del carico e/o di contaminazione dei campioni.

Vantaggi Chiave

·         Il solo ad alta definizione vero del Mondo, basso vuoto FEG-SEM.

·         L'ultima soluzione di caratterizzazione per il carico e/o la contaminazione i nano-Materiali o delle unità.

·         risoluzione di rappresentazione di 1,8 nanometro al chilovolt basso nell'alto vuoto e nel vuoto basso.

·         Software A Bordo della generazione del reticolo con il generatore di sequenze digitale 4kx4k.

·         Soluzioni Facoltative di chimica del gas per scrittura diretta del fascio di elettroni dei nanostructures.

·         La tecnologia Piezo-elettrica della fase consegna - su ad accuratezza molto alta molto alta di ripetibilità di ingrandimenti della rappresentazione, alla deriva molto bassa della fase ed alla velocità pareggiante di minimo per percorso del campione tramite il movimento della fase.

Tecnologia Magnetica della Lente di Immersione

NanoSEM porta le capacità senza precedenti ai ricercatori ed ai rivelatori nel laboratorio di nanotecnologia che lavora con i nano-materiali non conduttivi e di contaminazioni e/o - unità. Si combina, per la prima volta in cronologia di Microscopia Elettronica Di Scansione dell'Emissione di Campo, la tecnologia magnetica della lente di immersione con la tecnologia Ambientale di SEM. Entrambe queste tecnologie sono state competenze di tecnologia di base della Società di FEI dal mezzo al fine degli anni Novanta. L'effetto combinato rende la risoluzione ultraelevata unica, possibilità di caratterizzazione di basso vuoto in un ambiente che sopprime l'accumulazione della tassa sui materiali non conduttivi o sulle componenti non conduttive delle nano-unità; inoltre sopprime la contaminazione indotta del fascio di elettroni derivando dalle fasi di lavorazione precedenti del campione.

Opzioni Ed Applicazioni del Sistema

Le opzioni del Sistema includono gli strumenti specifici per Nanotech quale software a bordo per la generazione del reticolo, un blanker elettrostatico ad alta velocità del raggio come pure i sistemi ad iniezione del gas per scrittura diretta del fascio di elettroni dei nanostructures. I risultati Impressionanti sono stati ottenuti sul terreno comunale ma sui materiali provocatori di nanotecnologia come:

·         Pellicole del Diamante

·         Nanotubes del Carbonio

·         Teste di GMR

·         Nanoparticelle

·         Contenuto basso di /with K di Sezioni Trasversali A Semiconduttore

·         Elettronica Di Plastica

·         Materiali Porosi (per esempio silicio)

·         Substrati Di Vetro

·         Materiali Organici

Dimensioni

La Nova NanoSEM è disponibile con tre dimensioni differenti della fase: 6" (150 millimetri), 4" (100 millimetri) o 2" (50 millimetri).

Sorgente: Società di FEI

Per ulteriori informazioni su questa sorgente visualizzi prego la Società di FEI

Date Added: Apr 15, 2005 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 01:28

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask regarding this article?

Leave your feedback
Submit