Электронная Микроскопия Скеннирования Излучения Поля Используя Нову NanoLab, Разносторонний, Высокопроизводительный FIB DualBeam - SEM от Компании FEI


Предпосылка

Nova™ NanoLab разностороннее, высокопроизводительное DualBeam™ (FIB/SEM) конструированное для того чтобы поддержать лидирующие требования к лаборатории нанотехнологии, материальной науки и рынков наук о жизни.

Ключевые Выгоды

  • Быстрые подвергать механической обработке и прототипирование на nanoscale
  • Высокие характеризация и анализ разрешения в 3 размерах
  • Интегрированный цифровой делая по образцу двигатель позволяя оптимизированный делать по образцу подготовляет для каждого применения, продукции сложных форм и филировать 3D
  • Высокая точность, мест-специфическая подготовка образца TEM и крест распределяя в широком диапазоне материалов
  • Программные особенности Автоматизации для легкия в использовании, эффективности и точности
  • Разносторонняя система позволяющ широкому диапазону вспомогательного оборудования для манипуляции анализа и образца

Характеристики

Технологии химии DualBeam и газа Компании зернокомбайнов FEI Новы с этапом точности и разносторонней камерой образца для того чтобы позволить широкому диапазону образцов быть проанализированным, охарактеризовано, подвергано механической обработке и prototyped на nanoscale.

Легкое в использовании ПО DualBeam позволяет исследователя понять и снабдить сложные задачи быстро.

Размеры

Нова NanoLab доступна с 2 различными размерами этапа: 6" (150 mm) и 2" (50 mm).

Источник: Компания FEI
Для больше информации на этом источнике пожалуйста навестиньте Компания FEI

Date Added: Apr 15, 2005 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 01:45

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask regarding this article?

Leave your feedback
Submit