場致發射掃描使用新星 NanoLab,多才多藝,高性能 DualBeam 小謊 - 從 FEI 公司的 SEM 的電子顯微鏡術


背景

Nova™ NanoLab 是 (小謊/SEM) 被設計的多才多藝,高性能 DualBeam™支持納米技術、材料學和生命科學市場的高端實驗室需求。

關鍵利益

  • 在 nanoscale 的快速用機器製造和原型
  • 高分辨率描述特性和分析在 3 維數
  • 允許優化仿造的集成數字式仿造的引擎為每種複雜形狀的應用,生產和 3D 碾碎適應
  • 高精度、站點特定 TEM 範例區分在各種各樣的材料的準備和交叉
  • 自動化易用、效率和準確性的軟件特點
  • 多才多藝的系統允許分析和範例處理的各種各樣的輔助部件

功能

新星聯合收穫機 FEI 公司的 DualBeam 和氣體化學技術以允許各種各樣的範例的精確度階段和多才多藝的標本房間被分析,分析,用機器製造和 prototyped 在 nanoscale。

易用 DualBeam 軟件使研究員迅速設想和實施複雜任務。

範圍

新星 NanoLab 對二個不同階段範圍是可用的: 6" (150 mm) 和 2" (50 mm)。

來源: FEI 公司
關於此來源的更多信息请請拜訪 FEI 公司

Date Added: Apr 15, 2005 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 01:16

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