場發射掃描電子顯微鏡使用新NanoLab,多功能,高性能DualBeam的FIB - FEI公司的SEM

:AZoNanotechnology技術簡介


背景

新星™NanoLab是一種多功能,高性能 DualBeam™(FIB / SEM)旨在支持的納米技術,材料科學和生命科學市場的高端實驗室要求。

主要優點

  • 在納米尺度的快速加工和原型
  • 高分辨率的特性,並在3個維度分析
  • 集成數字圖案引擎允許每個應用程序,生產複雜形狀和3D銑削優化的圖案條件
  • 精度高,現場具體的TEM樣品製備和交叉切片在各種材料
  • 為便於使用,效率和準確性的自動化軟件的功能
  • 多功能的系統,允許一個廣泛的配件進行分析和樣品處理

特點

新星結合FEI公司的 DualBeam和氣體化學技術與精密階段和多功能樣品室,讓廣泛的樣品進行分析,特點,加工和納米級的原型。

易於使用的軟件 DualBeam使研究人員設想,並迅速執行複雜的任務。

尺寸

新星NanoLab是提供了兩個不同的階段尺寸:6英寸(150毫米)和2英寸(50毫米) 。

來源:FEI公司
對於這個源的更多信息, 請訪問
FEI公司

Date Added: Apr 15, 2005

Last Update: 17. October 2011 17:58

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