Bereich Emissions-Rasterelektronenmikroskopie Für Industrieller Prozess-Labors Unter Verwendung der Quantümer 200 3D DualBeam (FLUNKEREI SEM) von FEI-Firma

Hintergrund

Die Quantümer 200 3D DualBeam (FLUNKEREI/SEM) wird ideal zum industriellen prozesskontrollierten Labor entsprochen, das Bild oder mehrfache Querschnitte in schwierigen Proben zu analysieren muss. Für das Materialwissenschaftslabor bietet es die Fähigkeit von dynamischen in-situexperimenten, von Darstellung 3D und von Analyse und VON TEM-Probenaufbereitung für ausführlichere Analyse an.

SchlüsselNutzen

Multi Vakuummodus aktiviert dynamische in-situexperimente und Darstellung und Analyse auf jeder möglicher Probe.

  • Wolframelektronenquelle ist- für analytische Techniken wie EDS ideal.
  • SPI-Modus für das Überwachen des kopierenden Prozesses der FLUNKEREI.
  • Integrierter digitaler kopierender Motor gewährt optimiert, Bedingungen für jede Anwendung, Produktion von komplexen Formen und das Mahlen 3D patentierend.
  • Genaue, effiziente und bedienungsfreundliche Automatisierungssoftware.
  • Vielseitige Anlage erlaubt eine große Auswahl von Zubehör für Analyse- und Beispielmanipulation.

Merkmale

Der Multivakuummodus (einschließlich ESEM), verbunden mit der Fähigkeit, eine kälteerzeugende Stufe zu befestigen, bietet Biowissenschaftslabors eine eindeutige Methode des Montierens von Informationen sogar vom schwierigsten von Proben an.

Die Quantümer 200 3D, mit seiner Wolframelektronspalte, fokussierten Ionenträgerspalte und Gaseinspritzdüsenanlage, ist- ein volles DualBeam, das alle Fähigkeiten der Site-spezifischen Quereinteilung anbietet, des komplexen kopierenden Ionenträgers, der materiellen Absetzung und der Radierung, der Darstellung und der Analyse. Der Multivakuummodus bietet Forschern die Fähigkeit an, dynamische in-situexperimente in nassem, Kälte oder Zustände und Bild zu leiten der hohen Temperatur oder jede mögliche Probe zu analysieren, ohne aufzuladen.

Quelle: FEI-Firma
Zu mehr Information über diese Quelle besuchen Sie bitte FEI-Firma

Date Added: Apr 15, 2005 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 01:25

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