Field Emission microscopie électronique à balayage pour les laboratoires des procédés industriels utilisant le Quanta 200 3D DualBeam (FIB SEM) de FEI Company

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Contexte

Le Quanta 200 3D DualBeam (FIB / SEM) est idéalement adapté au laboratoire de contrôle des processus industriels qui doivent analyser des images ou plusieurs sections dans les échantillons difficiles. Pour le laboratoire en science des matériaux qu'elle offre la possibilité d'expériences in-situ dynamique, l'imagerie 3D et d'analyse et de préparation des échantillons TEM pour plus d'une analyse en profondeur.

Avantages clés

Mode aspirateur multi permet expériences in-situ dynamique et d'imagerie et d'analyse sur un échantillon.

  • Source d'électrons de tungstène est idéal pour les techniques analytiques telles que EDS.
  • Mode SPI pour le processus de structuration de surveillance FIB.
  • Moteur intégré structuration numérique permet l'optimisation des conditions de brevets pour chaque application, la production de formes complexes et de fraisage 3D.
  • Précis, efficace et facile à utiliser, le logiciel d'automatisation.
  • Système polyvalent permet une large gamme d'accessoires pour l'analyse et la manipulation des échantillons.

Caractéristiques

Le multi-vide en mode (y compris ESEM), couplée avec la possibilité de joindre un étage cryogénique, offre la vie des laboratoires scientifiques d'une façon unique de recueillir des renseignements, même les plus difficiles de l'd'échantillons.

Le Quanta 200 3D , avec sa colonne électronique de tungstène, axée colonne de faisceau d'ions et de gaz système d'injection, est une offre complète DualBeam toutes les capacités de sectionnement de la Croix-site spécifique, complexe patterning faisceau d'ions, dépôt de matériaux et de gravure, d'imagerie et d'analyse. Le mode multi-vide offre aux chercheurs la possibilité de mener des expériences in-situ dans des conditions dynamiques de température humide, froid ou forte et de l'image ou analyser un échantillon, sans recharge.

Source: FEI Company
Pour plus d'informations sur cette source s'il vous plaît visitez FEI Company

Date Added: Apr 15, 2005

Last Update: 7. October 2011 10:00

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