Microscopia Elettronica Di Scansione dell'Emissione di Campo Per i Laboratori di Processo Industriale Facendo Uso dei Quantum 200 3D DualBeam (MENTA SEM) dalla Società di FEI

Sfondo

I Quantum 200 3D DualBeam (MENTA/SEM) è adatti idealmente al laboratorio industriale del controllo dei processi che deve immagine o analizzare le sezioni trasversali multiple in campioni provocatori. Per il laboratorio di scienza dei materiali offre la capacità preparato degli esperimenti, della rappresentazione 3D e dell'analisi e del campione dinamici in situ di TEM per l'analisi più approfondita.

Vantaggi Chiave

Il Multi modo di vuoto permette agli esperimenti e la rappresentazione e l'analisi dinamici in situ su tutto il campione.

  • La sorgente dell'elettrone del Tungsteno è ideale per le tecniche analitiche quale il EDS.
  • Modo di SPI per il video del trattamento di modello FIB.
  • Il motore di modello digitale Integrato concede ottimizzato brevettando i termini per ogni applicazione, produzione delle forme complesse e fresatura 3D.
  • Software Accurato, efficiente e di facile impiego di automazione.
  • Il sistema Versatile permette una vasta gamma di accessori per manipolazione del campione e dell'analisi.

Funzionalità

Il modo di multi-vuoto (ESEM compreso), accoppiato con la capacità di fissare una fase criogenica, offre a laboratori di scienze biologiche un modo unico di raccolta delle informazioni anche dal più provocatorio dei campioni.

I Quantum 200 3D, con la sua colonna dell'elettrone del tungsteno, hanno messo a fuoco la colonna del raggio ionico ed il sistema dell'iniettore di gas, è un DualBeam pieno che offre tutte capacità di divisione trasversale sito-specifica, raggio ionico complesso che modellano, il deposito ed incisione materiale, la rappresentazione e l'analisi. Il modo di multi-vuoto offre a ricercatori la capacità di eseguire gli esperimenti dinamici in situ nelle circostanze e nell'immagine bagnate, fredde o ad alta temperatura o di analizzare tutto il campione senza fare pagare.

Sorgente: Società di FEI
Per ulteriori informazioni su questa sorgente visualizzi prego la Società di FEI

Date Added: Apr 15, 2005 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 01:28

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