De Elektronenmicroscopie van het Aftasten van de Emissie van het Gebied Voor de Laboratoria die van het Industriële Proces Quanta 200 Gebruiken 3D DualBeam (LIEG SEM) van FEI Company

Achtergrond

Quanta 200 3D DualBeam (LIEG/SEM) is ideaal gezien geschikt voor het industriële procesbeheersingslaboratorium dat beeld of veelvoudige dwarsdoorsneden in uitdagingssteekproeven analyseren moet. Voor het laboratorium van de materialenwetenschap biedt het het vermogen van dynamische experimenten in situ, 3D weergave en analyse en TEM steekproefvoorbereiding voor aan meer diepgaande analyse.

Zeer Belangrijke Voordelen

De Multi vacuümwijze laat dynamische experimenten en weergave in situ en analyse van om het even welke steekproef toe.

  • De het elektronenbron van het Wolfram is ideaal voor analytische technieken zoals EDS.
  • De wijze van SPI om te controleren LIEGT het vormen van proces.
  • De Geïntegreerde digitale het vormen motor staat geoptimaliseerde het patenteren voorwaarden voor elke toepassing, productie van complexe vormen en 3D malen toe.
  • Nauwkeurige, efficiënte en makkelijk te gebruiken automatiseringssoftware.
  • Het Veelzijdige systeem staat een brede waaier van toebehoren voor analyse en steekproefmanipulatie toe.

Eigenschappen

De multi-vacuümdiewijze (met inbegrip van ESEM), aan de capaciteit wordt gekoppeld om een cryogeen stadium vast te maken, biedt de laboratoria van de het levenswetenschap een unieke manier om informatie te verzamelen zelfs van de uitdaging van steekproeven aan.

Quanta 200 3D, met zijn kolom van het wolframelektron, het geconcentreerde ionenstraalkolom en systeem van de gasinjecteur, is een volledige DualBeam aanbiedend alle mogelijkheden van hetspecifieke kruis segmenteren, complexe ionenstraal vormend, materiële deposito en ets, weergave en analyse. De multi-vacuümwijze biedt onderzoekers de capaciteit aan om dynamische experimenten in situ in nat, koud of op hoge temperatuur te leiden voorwaarden en beeld of om het even welke steekproef te analyseren zonder het laden.

Bron: FEI Company
Voor meer informatie over deze bron tevreden visit FEI Company

Date Added: Apr 15, 2005 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 01:18

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask regarding this article?

Leave your feedback
Submit