Электронная Микроскопия Скеннирования Излучения Поля Для Лабораторий Промышленного Процесса Используя Суммы 200 3D DualBeam (FIB SEM) от Компании FEI

Предпосылка

Суммы 200 3D DualBeam (FIB/SEM) идеально одеты к промышленной лаборатории управления производственным процессом которая изображение или проанализировать множественные поперечные сечения в трудных образцах. Для лаборатории науки материалов она предлагает возможность в-situ подготовка динамических экспериментов, воображения 3D и анализа и образца TEM для более глубокого анализа.

Ключевые Выгоды

Multi режим вакуума позволяет в-situ динамических экспериментах и воображении и анализе на любом образце.

  • Источник электрона Вольфрама идеально для аналитически методов как EDS.
  • Режим SPI для контролировать процесс FIB делая по образцу.
  • Интегрированный цифровой делая по образцу двигатель позволяет оптимизировано патентующ условия для каждого применения, продукции сложных форм и филировать 3D.
  • Точное, эффективное и легкое в использовании ПО автоматизации.
  • Разносторонняя система позволяет широкому диапазону вспомогательного оборудования для манипуляции анализа и образца.

Характеристики

Режим multi-вакуума (включая ESEM), соединенный с способностью прикрепить криогенный этап, предлагает лабораториям наук о жизни уникально путь собирать информацию даже от самого трудного образцов.

Суммы 200 3D, с своей колонкой электрона вольфрама, сфокусировали колонку луча иона и система инжектора газа, полное DualBeam предлагая все возможности мест-специфический перекрестный распределять, сложный луч иона делая по образцу, материальные низложение и вытравливание, воображение и анализ. Режим multi-вакуума предлагает исследователям способность дирижировать в-situ динамических экспериментах в влажных, холодных или высокотемпературных условиях и изображении или проанализировать любой образец без поручать.

Источник: Компания FEI
Для больше информации на этом источнике пожалуйста навестиньте Компания FEI

Date Added: Apr 15, 2005 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 01:45

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask regarding this article?

Leave your feedback
Submit