場致發射掃描工業生產方法實驗室的電子顯微鏡術使用數量從 FEI 公司的 200 个 3D DualBeam (小謊 SEM)

背景

數量 200 个 3D DualBeam (小謊/SEM) 理想地說配合與必須圖像或分析富挑戰性的範例的多個橫斷面的行業程序控制的實驗室。 對於材料學實驗室它提供原地動態實驗、 3D 想像和分析和 TEM 範例的功能更加詳細的分析的準備。

關鍵利益

多真空模式啟用原地動態實驗和想像和分析在所有範例。

  • 鎢電子來源對分析技術是理想的例如 EDS。
  • 監控的小謊仿造的進程 SPI 模式。
  • 集成數字式仿造的引擎准許優選給予專利每種複雜形狀的應用,生產和 3D 碾碎的條件。
  • 準確,高效和易用自動化軟件。
  • 多才多藝的系統允許分析和範例處理的各種各樣的輔助部件。

功能

多真空模式 (包括 ESEM),加上這個能力附有一個低溫階段,提供生命科學實驗室收集信息一個唯一方式甚而從最富挑戰性範例。

數量 200 个 3D,與其鎢電子列,集中離子束列,并且氣體注射器系統,是提供所有站點特定交叉區分的功能的充分的 DualBeam,仿造複雜的離子束,物質證言和蝕刻、想像和分析。 多真空模式提供研究員這個能力做在濕,冷或者高溫情況和圖像的原地動態試驗或者分析所有範例,无需充電。

來源: FEI 公司
關於此來源的更多信息请請拜訪 FEI 公司

Date Added: Apr 15, 2005 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 01:16

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