Strukturelle Analyse Und SEM-STEM Darstellung Mit dem Schichten 400 STAMM DualBeam (FLUNKEREI/SEM) - Lieferanten-Daten Durch FEI-Firma

Hintergrund

Der der Stützanalytischen Labors Schichten 400 STAMM DualBeam (FLUNKEREI/SEM) zunehmende Bedarf an den analytischen Fähigkeiten der hohen Auflösung als Einheitsgeometriepsychiater unter 100 nm und neue materielle Anlagen wird eingeführt.

SchlüsselNutzen

·         Schnelle und einfache hohe Auflösung, kontrastreiche Darstellung für komplette strukturelle Analyse

·         Beschleunigen Sie Ihre „Zeit, zu antworten“ indem Sie Material- und Defektanalyse auf einem einzelnen Hilfsmittel durchführen, das hochauflösende Bilder und kompositionelle Daten entbindet

·         Das Vielseitige Beispielhandhaben optimiert Kosten des Besitzes

·         Die Integrierte wiederholende Verringerung und SEM-STEM Darstellung, ohne Vakuum zu brechen, beseitigt Verunreinigung

·         Verringerte Trainingsanforderungen und optimale Anlagennutzung mit automatisierten Programmen

·         Ihre einzelne Quelle für komplette Beispielmanagementlösungen

Merkmale

Die Schichten 400, die STAMM integrierte Probe enthält, heben heraus und handhabend, mit SEM-STEM (ScannenTransmissions-Elektronenmikroskopie) Darstellung, um kontrastreiche, hochauflösende Analyse zu aktivieren. Die neue Sidewinder™-Ionenspalte liefert verbesserten Beispieldurchsatz und entscheidende Beispielqualität.

BeispielHandhaben

Der Schichten 400 STAMM kann konfiguriert werden, um mehrfache Proben in einer einzelnen Sitzung automatisch vorzubereiten. Die Scheiben- und Ansichtfähigkeit des DualBeam kann verwendet werden, um die dünnste mögliche Probe zu erhalten, ohne den Zielbereich zu zerstören. Darüber hinaus erhöht NiedrigkV kann das Mahlen mit dem Ionenträger verwendet werden, um Beispielqualität zu verbessern.

Dünnfilm-Proben

Die Macht der Schichten 400 HALTEN auf, kommt jedoch von seiner Fähigkeit, völlig sich vorzubereiten, vom Bild und Dünnschichtproben zu analysieren. Das innovative FlipStage™ FEI-Firma (schwebend) verschiebt die Probe vom Mahlen auf Stamm-Darstellung Stellung in Sekunden, ohne Vakuum zu brechen. Für Massenprobenmaterialien wird ein in-situabluftsystem verwendet, um dünne Proben auf ein TEM-Gitter zu übertragen, wenn waagerecht ausgerichtete Analyse Ångström gefordert wird. Wechselweise können Proben in einem VollWafer DualBeam in situ extrahiert werden, oder an den Gitter mechanisch vor-verdünnt werden und montiert werden, bevor man im Schichten 400 STAMM für abschließende Probenaufbereitung, Darstellung und Analyse belastet.

Quelle: FEI-Firma

Zu mehr Information über diese Quelle besuchen Sie bitte FEI-Firma

Date Added: Apr 15, 2005 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 01:25

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