Analisi Strutturale E Rappresentazione di SEM-STEM Con il GAMBO DualBeam (MENTA/SEM) - Dati degli Strati 400 del Fornitore della Società di FEI

Sfondo

L'esigenza aumentante degli Strati 400 del GAMBO di DualBeam (MENTA/SEM) dei laboratori analitici di sostegni delle capacità analitiche di alta risoluzione come le geometrie dell'unità si restringono inferiore a 100 nanometro e nuovi sistemi materiali è introdotta.

Vantaggi Chiave

·         Alta risoluzione Veloce e semplice, rappresentazione ad alto contrasto per analisi strutturale completa

·         Acceleri il vostro “tempo di rispondere„ eseguendo l'analisi di difetto e del materiale su un singolo strumento che consegna le immagini ad alta definizione ed i dati composizionali

·         La manipolazione Versatile del campione ottimizza il costo della proprietà

·         L'assottigliamento iterativo Integrato e la rappresentazione di SEM-STEM senza rompere il vuoto eliminano la contaminazione

·         Requisiti di formazione Diminuiti ed utilizzazione di sistema ottimale con le routine automatizzate

·         La Vostra singola sorgente per le soluzioni complete della gestione del campione

Funzionalità

Gli Strati 400 che il GAMBO include il campione integrato sollevano e trattando, con la rappresentazione di SEM-STEM (microscopia elettronica a scansione) per permettere all'analisi ad alto contrasto e ad alta definizione. La nuova colonna dello ione di Sidewinder™ fornisce la capacità di lavorazione migliore del campione e l'ultima qualità del campione.

Manipolazione del Campione

Il GAMBO degli Strati 400 può essere configurato per preparare automaticamente i campioni multipli in una singola sessione. La capacità di visualizzazione e della fetta del DualBeam può essere usata per ottenere il campione possibile più sottile senza distruggere l'area di obiettivo. Inoltre, la fresatura migliorata basso chilovolt con il raggio ionico può essere usata per migliorare la qualità del campione.

Campioni della Pellicola Sottile

La potenza reale degli Strati 400 STACCA, tuttavia, viene dalla sua capacità completamente di preparare, dall'immagine e di analizzare i campioni di sottili pellicole. Il FlipStage™ della Società di FEI (brevetto in registrazione innovatore) muove il campione da fresatura verso la posizione della Gambo-rappresentazione nei secondi senza rompere il vuoto. Per gli esemplari in serie, un sistema d'estrazione in situ è utilizzato per trasferire i campioni sottili ad una griglia di TEM, se l'analisi livellata di Ångström è richiesta. Alternativamente, i campioni possono essere estratti in situ in un interamente wafer DualBeam, o pre-essere assottigliati meccanicamente e montati sulle griglie, prima del carico nel GAMBO degli Strati 400 per il preparato, la rappresentazione e l'analisi definitivi del campione.

Sorgente: Società di FEI

Per ulteriori informazioni su questa sorgente visualizzi prego la Società di FEI

Date Added: Apr 15, 2005 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 01:28

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