Strukturell Analys Och SEM-STEM som Avbildar Med STEMEN DualBeam (FIBEN/SEM 2000) för Skikt 400 - LeverantörData Av FEI-Företaget

Bakgrund

För STEMDualBeam för Skikt 400 de analytiska laboratoriumnas (FIB/SEM 2000) service ökande behov för analytiska kapaciteter för kickupplösning som apparatgeometrihjärnskrynklare nedanföra 100 nm och nya materiella system introduceras.

Nyckel- Gynnar

·,         Fasta och enkel kickupplösning, kickkontrast som avbildar för färdig strukturell analys

·,         Rusa din ”tid att svara att”, genom att utföra som är materiellt och att hoppa av analys på en singel bearbeta som levererar med hög upplösning avbildar och compositional data

·,         Mångsidigt ta prov bruk optimerar kostar av äganderätt

·,         Inbyggt iterativt glesnande och SEM-STEM som avbildar, utan avbrott, dammsuger avlägsnar förorening

·,         Förminskande utbildningskrav och optimalsystemutilization med automatiserade rutiner

·,         Din singelkälla för färdigt tar prov ledninglösningar

Särdrag

Skikten 400 som STEMEN inkluderar inbyggt, tar prov elevatorn-ut och bruk, med SEM-STEM (microscopy för scanningöverföringselektron) som avbildar för att möjliggöra kick-kontrast, analys med hög upplösning. Den nya Sidewinder™ jonkolonnen ger förbättrat tar prov genomgång, och ultimat ta prov kvalitets-.

Ta Prov Bruk

STEMEN för Skikt 400 kan konfigureras automatiskt för att förbereda multipel tar prov i en singelperiod. Skivan och beskådar kapacitet av DualBeamen kan vara van vid erhåller den tunnaste möjligheten tar prov, utan förstörelse av uppsätta som målområdet. I tillägg strålar förhöjd malning låg-kV med jonen kan vara van vid förbättrar tar prov kvalitets-.

Tunt Filma Tar Prov

De verkliga driver av Skikten 400 STEM, kommer emellertid från dess kapacitet fullständigt att förbereda sig, att avbilda, och att analysera tunn-filma tar prov. FEI-Företags innovativa FlipStage™ (patenterat oavgjort) flyttningar som ta prov från malning till STEM-att avbilda placerar understöder in, utan avbrott, dammsuger. För bulk prov i-situ extraktionsystem är den tunna van vid överföringen tar prov till ett TEM-raster, om Ångström jämn analys krävs. Alternativt tar prov kan dras ut i situ i ettrån DualBeam, eller mekaniskt pre-gjort tunnare och monterat på raster, innan du laddar i STEMEN för Skikt 400 för final, ta prov förberedelsen, att avbilda och analys.

Källa: FEI-Företag

För mer information på denna källa behaga Företaget för besök FEI

Date Added: Apr 15, 2005 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 01:51

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask regarding this article?

Leave your feedback
Submit