结构分析和 SEM-STEM 想象与地层 400 词根 DualBeam (小谎/SEM) - 供应商数据由 FEI 公司

背景

作为设备几何收缩在 100 毫微米和新的物质系统以下引入对高分辨率分析功能的地层 400 词根 DualBeam (小谎/SEM) 支持分析实验室的增长的需要。

关键利益

·         完全结构分析的快速和简单的高分辨率,大反差想象

·         加速您的 “时刻通过执行在提供高分辨率图象和作文数据的一个唯一工具的材料和缺陷分析答复”

·         多才多艺范例处理优选所有权的费用

·         集成迭代变薄和没有中断真空的 SEM-STEM 想象消灭污秽

·         减少的训练要求和最佳系统运用与自动化的程序

·         您的完全范例管理解决方法的唯一来源

功能

地层词根包括集成范例的 400 抱起和处理,与 SEM-STEM (扫描透射电镜术) 想象启用大反差,高分辨率分析。 新的 Sidewinder™离子列提供被改进的范例处理量和最终范例质量。

范例处理

在一个唯一会议上可以配置地层 400 词根自动地准备多个范例。 DualBeam 的片式和视图功能可以用于得到这个最稀薄的可能的范例,无需毁坏目标区域。 另外,提高低 kV 碾碎与离子束可以用于改进范例质量。

薄膜范例

地层 400 的实际功率抽去,然而,来自其能力充分地准备,图象和分析薄膜范例。 FEI 公司的创新 FlipStage™ (专利审理的) 从碾碎移动这个范例向词根想象位置在几秒钟内,无需中断真空。 对于批量标本,如果需要,一个原地提取系统用于调用稀薄的范例到 TEM 网格 Ångström 级别分析。 或者,范例在全薄酥饼 DualBeam 在网格可以在原处被提取或者前机械上变薄和被挂接,在装载在最终范例准备、想象和分析的地层 400 词根前。

来源: FEI 公司

关于此来源的更多信息请拜访 FEI 公司

Date Added: Apr 15, 2005 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 01:13

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