結構分析和 SEM-STEM 想像與地層 400 詞根 DualBeam (小謊/SEM) - 供應商數據由 FEI 公司

背景

作為設備幾何收縮在 100 毫微米和新的物質系統以下引入對高分辨率分析功能的地層 400 詞根 DualBeam (小謊/SEM) 支持分析實驗室的增長的需要。

關鍵利益

·         完全結構分析的快速和簡單的高分辨率,大反差想像

·         加速您的 「時刻通過執行在提供高分辨率圖像和作文數據的一個唯一工具的材料和缺陷分析答復」

·         多才多藝範例處理優選所有權的費用

·         集成迭代變薄和沒有中斷真空的 SEM-STEM 想像消滅汙穢

·         減少的訓練要求和最佳系統運用與自動化的程序

·         您的完全範例管理解決方法的唯一來源

功能

地層詞根包括集成範例的 400 抱起和處理,與 SEM-STEM (掃描透射電鏡術) 想像啟用大反差,高分辨率分析。 新的 Sidewinder™離子列提供被改進的範例處理量和最終範例質量。

範例處理

在一個唯一會議上可以配置地層 400 詞根自動地準備多個範例。 DualBeam 的片式和視圖功能可以用於得到這個最稀薄的可能的範例,无需毀壞目標區域。 另外,提高低 kV 碾碎與離子束可以用於改進範例質量。

薄膜範例

地層 400 的實際功率抽去,然而,來自其能力充分地準備,圖像和分析薄膜範例。 FEI 公司的創新 FlipStage™ (專利審理的) 從碾碎移動這個範例向詞根想像位置在幾秒鐘內,无需中斷真空。 對於批量標本,如果需要,一個原地提取系統用於調用稀薄的範例到 TEM 網格 Ångström 級別分析。 或者,範例在全薄酥餅 DualBeam 在網格可以在原處被提取或者前機械上變薄和被掛接,在裝載在最終範例準備、想像和分析的地層 400 詞根前。

來源: FEI 公司

關於此來源的更多信息请請拜訪 FEI 公司

Date Added: Apr 15, 2005 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 01:16

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