Высокое Воображение Электронной Просвечивающей Микроскопии Разрешения Используя ПО TrueImage - Данные По Поставщика Компанией FEI

Предпосылка

ПО TrueImage получает точные, сразу interpretable результаты от высок-разрешения TEM за пункт-разрешением.

Ключевые Выгоды

·         Interpretable разрешение улучшило до предела информации Tecnai FEG

·         Изображения освобождают от влияний delocalization

·         Точность к вашим изображениям высок-разрешения

·         Быстро, количествено, электронная микроскопия высок-разрешения

Характеристики

TrueImage реконструирует функцию электронной волны тонкого образца TEM через серию изображений высок-разрешения TEM с запатентованным методом реконструкции который совмещает подходы к линейных, нелинейных и максимального правдоподобия. Эта реконструкция математически исключает сферически аберрацию микроскопа, таким образом извлекающ влияния delocalization от источника электрона FEG.

Коррекция Астигматизма

Исследователя используя профессиональную версию TrueImage могут автоматически исправить defocus и двукратную кому астигматизма и вручную правильных и троекратный астигматизм.

Источник: Компания FEI

Для больше информации на этом источнике пожалуйста навестиньте Компания FEI

Date Added: Apr 15, 2005 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 01:45

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask regarding this article?

Leave your feedback
Submit