聚合物分子量 & C* 評定使用 Zetasizer 納諾系統從 Malvern 儀器

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包括的事宜

背景

聚合物解決方法厚層性質

批量黏度和 C*

分散強度和聚合物分子量

分散強度和聚合物分子量的濃度依賴性

與其他數據的比較

彙總

背景

聚合物解決方法厚層性質

聚合物解決方法厚層性質對聚合物含量是敏感的。 聚合物解決方法典型地被描述作為是稀釋,半稀釋或者集中。 定義在稀釋和半稀釋地區之間的濃度邊界被定義成 C*,并且是聚合物鏈纏結首先被觀察濃度的代表。

批量黏度和 C*

批量黏度是可以用於設立 C* 的屬性。 在稀釋濃度政權內,在聚合物含量的一個增量導致在批量黏度的一個線性增量。 當鏈纏結發生時,批量黏度從線性偏離,由於鏈動力傳遞損耗和聚合物交往的被添加的黏彈性作用。 例如考慮圖 1,顯示批量黏度濃度依賴性一個低分子量的聚合物的 (商標突觸) 在有機溶液,并且指示 A.c. * ~ 的值 50 mg/ml。

AZoNano - 納米技術 - 突觸批量黏度的濃度依賴性在有機溶液的,指示 A.c. * ~ 的值 50 mg/ml。

突觸批量黏度的濃度依賴性在有機溶液的,指示 A.c. * ~ 的值 50 mg/ml。

分散強度和聚合物分子量

以其簡單形式,聚合物解決方法的分散強度可以被描述作為是按比例與濃度和分子量的正方形。 对然後一個恆定的分子量聚合物,分散強度應該按比例增加與在範例濃度的增量。 對於聚合物解決方法在這個稀釋區域,線性濃度依賴性是這個平均數。 然而在這個半稀釋區域內,多次散射減少到達這臺探測器的光子的數量以更高的濃度,造成在分散強度的減少隨著濃度的增加。 多次散射的作用是明顯的在表 2,顯示分散強度和批量黏度濃度依賴性突觸聚合物的,并且指示一個峰頂在分散與 C* 是一致的強度的這個範例。

AZoNano - 納米技術 - 突觸殘餘的分散強度和批量項目貨簽黏度作為聚合物含量功能的。

突觸殘餘的分散強度和批量項目貨簽黏度作為聚合物含量功能的。

突觸聚合物的大小分佈在表 3 顯示,指示非被綜合的 monodisperse 配電器 (~ 5.5 毫微米直徑) 的所有範例濃度。

AZoNano - 納米技術 - 強度大小分佈為突觸導致作為聚合物含量功能使用數據數據評定與 Malvern Zetasizer 納諾 ZS

作為聚合物含量功能,強度大小分佈為突觸導致。

分散強度和聚合物分子量的濃度依賴性

分散強度的濃度依賴性在這個稀釋政權的可能也用於評定這個聚合物的分子量。 Rayleigh 比例 (Rθ)是這個範例的比與分散強度的事件。 对微粒小於 100 毫微米直徑, Rayleigh 比例的濃度依賴性可以被描述如下所示,其中 K 是一個光學常數, C 分析物含量, M 是重均分子量,并且 A2 是第 2 個 virial 系數 (大小的代表微粒 - 溶解的交往)。

產生的 Rayleigh 表達式以上圖解地表示以顯示 KC/Rθ的濃度依賴性 Debye 劇情的形式。 突觸數據的 Debye 劇情在表 4 顯示,指示 18.55 kDa 分子量和第 2 個 virial 系數 0.001878 ml mol/g。2

AZoNano - 納米技術 - 突觸的 Debye 劇情,顯示 KC/Rθ線性與濃度的和指示 18.55 kDa 分子量和第 2 個 virial 系數 0.001878 ml mol/g2 的被確定使用 Malvern Zetasizer 納諾 ZS

突觸的 Debye 劇情,顯示 KC/Rθ線性與濃度的和指示 18.55 kDa 分子量和第 2 個 virial 系數 0.001878 ml mol/G. 的。2

與其他數據的比較

突觸被評定的 18.55 kDa 分子量與範圍排除色譜法結果是一致的,產生一個估計的重均分子量 20 kDa。 第 2 個 virial 系數的正值表明溶劑化比聚合物彙總更加精力充沛地有利,并且建議在用於此研究的有機溶液的一個高可溶性限額。

彙總

使用 Malvern 儀器 Zetasizer 納諾 ZS 系統,用於此研究的突觸範例的範圍和質量評定收集了。 Zetasizer 納諾 ZS 是一臺靜態,動態和電泳光散射儀器,并且是結合準確和绝對大小、質量和 Zeta 潛在的評定的技術的第一個商業系統在一臺唯一儀器。 背景散射的角度和這個系統的給予專利的光學設計比其他商業可用的光散射儀器實現在範圍 (0.6 毫微米對 6 µm) 和濃度 (0.1 mg/ml 溶菌酶到 40 W%) 範圍間的評定極大。

來源: 「聚合物分子量 & C* 評定使用 Zetasizer 納諾系統」,應用註解由 Malvern 儀器。

關於此來源的更多信息请請參觀 Malvern 有限公司 (英國) 儀器Malvern 儀器 (美國)

Date Added: May 9, 2005 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 01:16

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