الموضوعات التي تغطيها
خلفية
تسجيل الأطياف الإسفار واحدة من الأنابيب النانومترية الكربونية ستريت (SWNTs) -- وصف عملية تجريبية
النتائج التي خرجت من هذه التجربة
الاستنتاجات
خلفية
وقد تلقى الألياف الكربونية واحد الجدران (SWNTs) ، ويتألف من تدحرجت متابعة ورقة واحدة من ذرات الكربون ، والكثير من الاهتمام في الآونة الأخيرة. ومن المعروف أن SWNTs تنبعث في منطقة الأشعة تحت الحمراء ، ويمكن استخدامها لتوصيف انبعاثاتها قطر وممتلكاتهم الهيكلية الأخرى. و ™ NanoLog (انظر الشكل 1) ، ومقياس التألق الطيفي وحدات من العلم HORIBA صمم ، مع قرب الأشعة تحت الحمراء للكشف عن ومطياف triax ل التحليل الطيفي لانبعاث SWNT كفاءة. بالقرب من الأشعة تحت الحمراء للكشف عن المتاحة تشمل كلا من السائل N - 2 - تبريد السمفونية سلسلة من الالواح InGaAs (انظر الشكل 2) ، والتي يمكن أن تتخذ مجموعة كاملة بسرعة ، وكذلك اقتصادية واحدة للكشف عن عنصر InGaAs. هذه كاشفات حساسة لالفوتونات من 800-1700 نانومتر ، مع الكشف عن اختياري لأطول موجات. بالإضافة إلى ذلك ، لحساسية الزائدة وقياسات زمنية قد حل ، يمكن استخدام الأشعة تحت الحمراء القريبة من أنبوب مضخم الحساسة مثل كاشف.
الشكل 1. NanoLog ™ مقياس التألق الطيفي من HORIBA العلمية.
الشكل 2. الصفيف InGaAs السيمفونية ، وكاشف القياسية على NanoLog ™.
تسجيل الأطياف الإسفار واحدة من الأنابيب النانومترية الكربونية ستريت (SWNTs) -- وصف عملية تجريبية
مضان أطياف من ارتفاع ضغط ثاني أكسيد الكربون وسجلت SWNTs (كبريتات الصوديوم المائية في 1 ٪ دوديسيل) باستخدام ™ NanoLog ، الذي ينطوي على مضاعفة صريف - الإثارة مستوحد اللون (600 الأخاديد / ملم ، واشتعلت النار في 1000 نانومتر) ، والانبعاث الطيفي TRIAX (150 الأخاديد / ملم ، واشتعلت النار في 1200 نانومتر) لانبعاث الغازات. للكشف عن مضان نانوتيوب "، وهي سلسلة السمفونية القريب من الأشعة تحت الحمراء InGaAs CCD - صفيف (512 بكسل × 1" [2.54 سم] ، N 2 السائل المبرد) تم استخدامه ، مع مرور الوقت التكامل 2 ثانية في فحص الانبعاثات. وكان الشق - 4 ملم على كل من الإثارة والانبعاث. وكان حجم الخطوة 2 نانومتر بين نقاط لكل التفحص. تم فحصه الإثارة 620-815 نانومتر ، وكان فحص الانبعاثات 1080-1356 نانومتر. وقد تم قياس كثافة الذرات مثل (إشارة -- بحساب الظلام) / المرجع. كانت المرة الاستحواذ الكلي للبيانات حوالي 10 دقيقة.
النتائج التي خرجت من هذه التجربة
A 3 - D الإثارة الانبعاثات مصفوفة المسح الضوئي (انظر الشكل 3) في المنطقة القريبة من الأشعة تحت الحمراء الطيفي للاهتمام كامل ويبين لمحة عامة عن الخصائص مضان من خليط SWNT. ونظرا لشرليتي كل الأنواع إحداثيات (ن ، م) والخمسين.
المحاكاة وتعيين الحدود القصوى للالطيفية التي تقدمها العلمي HORIBA 'ق يرد Nanosizer حزمة البرامج TM في أرقام 3 و 4 (أنظر أدناه). في الشكل 3 ، والعلوي شقة مؤامرة تشمل الخطوط الكنتورية بيضاء من طائفة والمحاكاة. ويبين التنازل عن القمم في الشكل (4) ؛ يرتبط القطر وزاوية مراوان تصل المتداول من الأنابيب النانومترية في الطول الموجي للقمم الانبعاثات.
الشكل 3. الانبعاثات الإثارة تفحص مصفوفة من خليط من SWNTs سجلت مع ™ NanoLog. ويرد شرليتي من كل الأنواع مثل (ن ، م). خطوط بيضاء على السطح العلوي لل"المكعب" هي من محاكاة لنفس المصفوفة التي يؤديها برنامج ™ Nanosizer.
الشكل 4. التحليل ، في شكل خارطة مراوان ، من قبل ™ Nanosizer من خليط من SWNTs سجلت مع ™ NanoLog في الشكل 3. ويرد شرليتي من كل الأنواع مثل (ن ، م). ترتبط الألوان وبأقطار من الدوائر لشدة ذروتها في الشكل 3.
الاستنتاجات
وتسجل بسهولة من الألياف الكربونية وحيدة الجدار وتحليلها باستخدام -- أطياف الأشعة تحت الحمراء القريبة من -- بما في ذلك بفحص مصفوفة NanoLog ™ مقياس التألق الطيفي مع برنامج TM Nanosizer ، على التوالي. و ™ NanoLog مفيد في مجموعة واسعة من البحوث المتعلقة النانو والنقاط الكمية ، وعلوم المواد في المستقبل.
ملاحظة : يمكن الاطلاع على مجموعة كاملة من المراجع التي تشير إلى الوثيقة الأصلية.
المصدر : Horiba العلمي.
لمزيد من المعلومات عن هذا المصدر ، يرجى زيارة Horiba العلمية .