Messende Monosize Partikel mit Saturn DigiSizer Von Micromeritics

Themen Umfaßt

Hintergrund

Monosize Partikel-Analyse

Instrument Empfindlichkeit

Zerstreuen von Muster-Kurven

Hintergrund

Micromeritics Saturn DigiSizer® misst Korndurchmesser von den Informationen, die von Mie berechnet werden, welches die Muster der einfarbigen Leuchte passierend durch die Partikel zerstreut. Die Technik benötigt das Zerstreuenmuster zuerst erwerben und die Größe der Partikel dann bestimmen, die solch ein Muster produzieren würden. Offensichtlich je mehr führte das Muster je breit die Winkel umfaßt, können desto einzeln auf und besser sein die Analyse.

Monosize Partikel-Analyse

Die Muster, die unten gegeben werden, sind Vertreter von den Analysen, die auf sehr nahe monosize Polystyrenkugeln gemacht werden. Sie sind in selbst beträchtlich, weil sie die große Empfindlichkeit Saturns DigiSizer ermöglichen demonstriert zu werden.

Instrument Empfindlichkeit

Instrumentempfindlichkeit hängt nicht von der Größe der Partikel oder ihrer Verteilung von Größen ab, aber, Empfindlichkeit offenbar zu demonstrieren benötigt eine unkomplizierte Partikelanlage d.h. ein monosize.

Zerstreuen von Muster-Kurven

Der Plan in Abbildung 1 ist ein Zerstreuenmuster von 11 ìm Durchmesserkugeln, die durch Saturn DigiSizer gemessen werden. Die Kreise stellen die Datenpunkte dar und die Vollinie ist die Keilinterpolation, die begrenzt wird, um durch die Punkte zu passieren. Es ist die Punkte auf dieser Kurve, die dann befestigt werden, um Teilchengröße zu erbringen.

Abbildung 1. Zerstreuenmuster von 11 ìm Durchmesserkugeln

Abbildung 2 zeigt das Muster für 77 ìm Durchmesserkugeln und, wie vor, mit Datenpunkten und befestigter Kurve.

Abbildung 2 Muster für 77 ìm Durchmesserkugeln

Diese Kurve wird in den Abschnitten wiederholt (Abbildungen 3, 4 und 5) ohne die Punkte, damit der volle Umfang eines Sonderkommandos offensichtlich ist. Es ist möglich, 96 Lappen auf dem Zerstreuenmuster für dieses zweite Material zu kennzeichnen.

Abbildung 3. Zerstreuenmuster ohne die Punkte markiert

Abbildung 4. Zerstreuenmuster ohne die Punkte markiert

Abbildung 5. Zerstreuenmuster ohne die Punkte markiert

Micromeritics Instrument Corporation

Quelle: Micromeritics Instrument Corporation

Zu mehr Information über diese Quelle besuchen Sie bitte Micromeritics Instrument Corporation

 

Date Added: Jan 18, 2006 | Updated: Sep 11, 2013

Last Update: 11. September 2013 12:46

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask regarding this article?

Leave your feedback
Submit