Воображение TappingMode AFM в Жидкостях Для Изучения Адсорбции Коллоидной Частицы

Покрытые Темы

Предпосылка

Обычные Изображения AFM Контакта

Изображения TappingMode AFM

Модификация Поверхности Подсказок Зонда

Сводка

О Поверхностях Bruker Nano

Предпосылка

Способность к поверхностям изображения твердым в жидкостном средстве делает атомной микроскопией усилия (AFM) привлекательный инструмент в изучении жидкост-твердых interfacial явлений. Одна такая зона исследования где AFM доказывал полезное в изучении малых частиц и биологических молекул которые адсорбируют от водяной жидкости на твердую поверхность.

AFM обеспечивает увеличения большие достаточно для того чтобы разрешить одиночные, глубокие частицы sub-микрометра на поверхности, пока присутсвие жидкости держит адсорбированные частицы в их уроженце, ые водой положения. Для этих причин, AFM широко используется в изучении адсорбции коллоидных частиц, включая латексы полимера, минеральные коллоиды, и молекулы протеина.

Обычные Изображения AFM Контакта

Обычные частицы изображений AFM режима контакта которые прикреплены твердо к поверхности, как с ковалентные связи. Однако, когда коллоидные частицы адсорбируют к твердому телу, они связывают non-covalently с поверхностью через электростатическое, фургон der Waals, или гидродобные взаимодействия, поэтому они могут иметь высокие боковые удобоподвижности.

В режиме контакта AFM, волоча движение подсказки зонда прилагает боковое усилие на поверхности которая может нажать вокруг свободно адсорбированные частицы, предотвращая воображение частиц в их естественном расположении на поверхности. Эта проблема во избежаниеа воображением в жидкости с TappingMode™ AFM.

Изображения TappingMode AFM

С этим запатентованным методом, подсказка зонда быстро осциллирует и выстукивает поверхность слегка на дне каждого цикла колебания. Прерывистый контакт исключает боковые усилия на поверхности подсказкой скеннирования, и позволяет воображению адсорбированных частиц без двигать их на поверхности.

На Диаграмму 1 показано жидкостное изображение TappingMode частиц латекса полимера положительно заряженный (латекса amidine) адсорбированных к слюде в воде. Слой адсорбированных частиц может быть imaged повторно без любого движения частиц.

AZoNano - A к Z Нанотехнологии - TappingMode в жидкостном изображении несомненно - порученные частицы латекса полистироля адсорбировали к слюде (в воде). Средний диаметр частиц 120nm. развертка 3μm

Диаграмма 1. TappingMode в жидкостном изображении несомненно - порученные частицы латекса полистироля адсорбировали к слюде (в воде). Средний диаметр частиц 120nm. развертка 3μm

На Диаграмму 2 показано такие же 3μm x 3μm зона, imaged моменты более поздно в воде с режимом контакта. Запачканные штриховатости в изображении предлагают что адсорбированные частицы не остают неподвижными по мере того как подсказка зонда просматривает над ими.

AZoNano - A к Z Нанотехнологии - изображение режима Контакта в воде такой же зоны в Диаграмме 1. развертке 3μm

Диаграмма 2. изображение режима Контакта в воде такой же зоны в Диаграмме 1. развертке 3μm.

На Диаграмму 3 показано более обширную зону образца (7μm x 7μm) imaged в воде с TappingMode. Повреждение к слою адсорбированных частиц причиненных разверткой режима контакта ясно. Кажется, что нажаты адсорбированные частицы в группы, главным образом около сторон ранее просмотренной зоны, и чуть-чуть субстрат слюды подвергается действию.

AZoNano - A к Z Нанотехнологии - изображение TappingMode в воде получило после того как будет увидена Диаграмма 2. Повреждение к адсорбированному слою от развертки режима контакта куда частицы были нажаты в группы, подвергающ действию чуть-чуть зоны субстрата слюды. развертка 7μm.

Диаграмма 3. изображение TappingMode в воде получила после того как будет увидена Диаграмма 2. Повреждение к адсорбированному слою от развертки режима контакта куда частицы были нажаты в группы, подвергающ действию чуть-чуть зоны субстрата слюды. развертка 7μm.

В Виду Того Что адсорбированные частицы без изменений осциллируя подсказкой в TappingMode, возможно наблюдать как расположение частиц на поверхности повлияно на свойствами системы, как ионная прочность окружающей жидкости. Эта информация уместна к обрабатывать коллоидных материалов и очищению продуктов протеина. С TappingMode в жидкости, также возможно изучить как слой адсорбированных частиц растет с временем, и увидеть как структура адсорбированного слоя на поверхность раздела между жидкой и твердой фазами отличает от структуры на воздух-твердом интерфейсе.

Модификация Поверхности Подсказок Зонда

Для некоторых экспириментально систем, адсорбированные частицы могут клонить придерживаться к подсказке зонда, даже с TappingMode AFM. Например, несомненно - порученные частицы латекса будут иметь электростатическую привлекательность к зонду нитрида кремния, который имеет немножко отрицательную поверхностную обязанность в воде. Такие частицы могут стать прикрепленными к подсказке, приводящ к в артефактах в последующих изображениях. Эта проблема противопоставлена путем дорабатывать поверхность зонда с средство для адгезии между смолой и арматурой силана, силаном aminobutyldimethylmethoxy 4.

Залеми monoethoxysilane с охватом sub-монослоя на зонде, и аминовая группа на прикрепленном силане совещаются положительная поверхностная обязанность к доработанной подсказке.

Положительная обязанность на подсказке блокирует прилипание несомненно - запряженные частицы и значительно продлевает свою продолжительность жизни для воображения такие адсорбированные коллоиды с TappingMode в воде. Этот метод изменения подсказки также работает хорошо когда воображение высушило адсорбированные слои с TappingMode в воздухе.

Сводка

Воображение TappingMode в жидкостях идеально экспириментально метод в изучении адсорбции коллоидных частиц к твердым поверхностям. Исключение боковых усилий между подсказкой AFM, и поверхность в TappingMode, позволяют частицам на поверхность раздела между жидкой и твердой фазами быть imaged без изменять их естественные положения. Это включает изучение влияний растворяющих условий на структуре адсорбированного слоя.

О Поверхностях Bruker Nano

Bruker Nano обеспечивает Атомные продукты Микроскопа Усилия/Микроскопа Зонда Скеннирования (AFM/SPM) которые стоят вне от других имеющих на рынке систем для их робастных конструкции и легкия в использовании, пока поддерживающ самое высокое разрешение. Головка NANOS измеряя, которая часть всех наших аппаратур, использует уникально волоконнооптический интерферометр для измерять консольное отклонение, которое делает компакт настроения так что оно не большле чем стандартная задача микроскопа исследования.

Источник: Поверхности Bruker Nano

Для больше информации на этом источнике пожалуйста посетите Поверхности Bruker Nano.

 

Date Added: Mar 8, 2006 | Updated: Apr 1, 2012

Last Update: 1. April 2012 23:32

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask regarding this article?

Leave your feedback
Submit