在流體的 TappingMode AFM 想像膠質微粒吸附的研究的

包括的事宜

背景

常規聯絡 AFM 圖像

TappingMode AFM 圖像

探測技巧的表面修改

彙總

關於 Bruker 納諾表面

背景

對圖像固定的表面的能力在一個液體媒體在液體固定的界面的現象的 (AFM)研究中做基本強制顯微學一個有吸引力的工具。 AFM 證明有用的一這樣研究領域在從在固定的表面上的含水液體吸附小顆粒和生物分子的研究中。

AFM 提供足够極大的放大解決唯一,深刻的子測微表微粒在表面,而液體的出現在他們的當地人保留被吸附的微粒,水合的狀態。 因此, AFM 是用途廣泛在膠質微粒的吸附的研究中,包括聚合物乳汁、礦物膠體和蛋白質分子。

常規聯絡 AFM 圖像

穩固地附有表面的常規聯繫模式 AFM 圖像微粒,例如與共價鍵。 然而,當膠質微粒吸附對固體時,他們關聯非共價表面通過靜電, van der Waals 或者疏水交往,因此他們可以有高側向流動性。

在聯繫模式 AFM 下,探測技巧的扯拽的行動施加在可能推進鬆散被吸附的微粒的表面的一個側力,防止微粒想像在他們的自然排列的在表面。 此問題由在液體的想像避免與 TappingMode™ AFM

TappingMode AFM 圖像

此給予專利的技術,探測技巧迅速地擺動并且輕地開發表面在每個動擺循環底層。 斷斷續續的聯絡由掃描技巧消滅在表面的側力,并且允許被吸附的微粒想像,无需移動他們在表面。

圖 1 在水中顯示帶陽電荷的聚合物乳汁微粒 (amidine 乳汁) 的一個液體 TappingMode 圖像被吸附對雲母。 被吸附的微粒層可以重複是印象的,不用微粒的任何移動。

AZoNano - 納米技術 A 到 Z - 在帶陽電荷的多苯乙烯乳汁微粒的液體圖像的 TappingMode 吸附了對雲母 (在水中)。 平均微粒直徑是 120nm。 3μm 掃描

圖 1. 在帶陽電荷的多苯乙烯乳汁微粒的液體圖像的 TappingMode 吸附了對雲母 (在水中)。 平均微粒直徑是 120nm。 3μm 掃描

圖 2 在水中顯示同樣 3μm x 3μm 區,印象過了一會兒在聯繫模式下。 在這個圖像的被弄髒的條紋建議被吸附的微粒不依然是固定式,當探測技巧瀏覽在他們。

AZoNano - 納米技術 A 到 Z - 聯繫模式圖像在同一區的水中在表 1. 3μm 掃描

圖 2. 聯繫模式圖像在同一區的水中在表 1. 3μm 掃描。

圖 3 在與 TappingMode 的水中顯示印象這個的範例 (7μm x 7μm) 的一更加清楚的區。 對聯繫模式掃描造成的被吸附的微粒層的故障是清楚的。 被吸附的微粒看上去被推進了到字符串,主要在這個以前瀏覽的區域附近的端,并且僅有的雲母基體顯示。

AZoNano - 納米技術 A 到 Z - TappingMode 圖像在水中獲得了,在圖 2. 對被吸附的層的故障從聯繫模式掃描被看到微粒被推進了到字符串的地方後,顯示雲母基體的僅有的區。 7μm 掃描。

圖 3. TappingMode 圖像在水中獲得了,在圖 2. 對被吸附的層的故障從聯繫模式掃描被看到微粒被推進了到字符串的地方後,顯示雲母基體的僅有的區。 7μm 掃描。

因為被吸附的微粒由這個擺動的技巧是未受影響的在 TappingMode,觀察微粒的排列在表面如何是受系統特性的影響的是可能的,例如周圍的液體的離子強度。 此信息與處理膠質材料和蛋白質產品的洗淨是相關的。 在液體的 TappingMode,學習被吸附的微粒層如何增長與時間也是可能的和發現被吸附的層的結構在液體固定的界面的如何與這個結構有所不同在空固定的界面。

探測技巧的表面修改

对某些實驗系統,被吸附的微粒可能傾向於遵守探測技巧,甚而與 TappingMode AFM。 例如,帶陽電荷的乳汁微粒將有一種靜電吸引力對氮化硅探測,有一個輕微負表面電荷在水中。 這樣微粒可能變得附有這個技巧,造成在隨後的圖像的人工製品。 此問題通過修改與硅酮聯結作用者, 4-aminobutyldimethylmethoxy 的探測表面抵抗硅酮。

與子單層覆蓋範圍的 monoethoxysilane 定金在探測和在附上硅酮的氨基商談一個正表面電荷對這個被修改的技巧。

在這個技巧的正電荷禁止帶陽電荷的微粒黏附力和非常地擴大其想像的壽命與 TappingMode 的這樣被吸附的膠體在水中。 當想像烘乾了與 TappingMode 的被吸附的層在航空,此技巧修改技術很好也運作。

彙總

在液體的 TappingMode 想像是一個理想的實驗技術在膠質微粒的吸附的研究中對固定的表面。 側力的清除在 AFM 技巧之間的和表面在 TappingMode,允許微粒在液體固定的界面是印象的,无需改變他們的自然立場。 這啟用溶解的情況的作用的研究對這塊被吸附的層的結構。

關於 Bruker 納諾表面

納諾的 Bruker 提供從他們的穩健設計和易用的其他商業可用的系統引人注意,維護最高分辨率的基本強制顯微鏡/掃描探測顯微鏡 (AFM/SPM) 產品。 NANOS 評定的題頭,是所有我們的儀器的一部分,使用評定的懸臂式偏折一臺唯一光導纖維的干涉儀,如此做設置協定它大於一個標準研究顯微鏡目的沒有。

來源:Bruker 納諾表面

關於此來源的更多信息请請參觀 Bruker 納諾表面

 

Date Added: Mar 8, 2006 | Updated: Apr 1, 2012

Last Update: 1. April 2012 23:28

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