Röntgenanalyse Auf dem Rasterelektronenmikroskop (SEM) und dem Durchstrahlungselektronenmikroskop (TEM) Unter Verwendung der INKA Anlage Von Oxford-Instrumenten

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Hintergrund
INKA Plattform-Lösungen

Hintergrund

INKA-Anlage Oxford-Instrumente ist die führende Plattform der Welt für Röntgenanalyse auf dem Rasterelektronenmikroskop (SEM) und dem Durchstrahlungselektronenmikroskop (TEM).

Software- und Detektortechnologie für Energie-Dispersive Mikroanalyse (EDS) sowie Wellenlängen-Dispersive Mikroanalyse (WDS) und Elektron-RückstreuBeugung (EBSD) sind in diese einzelne Universalplattform alles nahtlos integrierte. INKA bedeutet Leistung und Produktivität. Die Anlage ist und aufgebaute Anwendung in 30 Jahren Mikroanalysenerfahrung zusammen mit wertvollem Input von den Leuten konstruiert worden, die dieses Gerät für wirkliche Anwendungen verwenden.

INKA Plattform-Lösungen

Die folgenden Lösungen sind als Teil der INKA-Plattform erhältlich:

  • INCAEnergy für EDS-Mikroanalyse auf SEM
  • INCAEnergy TEM für EDS-Mikroanalyse auf einem TEM
  • INCAFeature für automatisierte Merkmalsanalyse
  • INCASteel für die Klassifikation von Stahleinbeziehungen
  • Engagierte Lösung INCAGSR für Gewehr-Kiesrückstandanalyse
  • INCAWave für WDS-Mikroanalyse
  • INCAEnergy+ für kombinierte EDS- und WDS-Mikroanalyse
  • INCASynergy für kombinierten EDS und EBSD
  • INCACrystal für EBSD-Mikroanalyse
  • HKL-Kanal 5 für EBSD-Mikroanalyse

Quelle: Oxford-Instrumente Nanoanalysis

Zu mehr Information über diese Quelle besuchen Sie bitte Oxford-Instrumente Nanoanalysis

Date Added: Oct 12, 2006 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 12:36

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