Análisis de Radiografía En El Microscopio Electrónico De Exploración (SEM) y el Microscopio Electrónico De la Transmisión (TEM) Usando El Sistema del INCA De los Instrumentos de Oxford

Temas Revestidos

Antecedentes
Soluciones de la Plataforma del INCA

Antecedentes

El sistema del INCA de los Instrumentos de Oxford es la plataforma de cabeza del mundo para el análisis de Radiografía en el Microscopio Electrónico De Exploración (SEM) y el Microscopio Electrónico De la Transmisión (TEM).

La tecnología del Software y del detector para el Microanálisis Dispersivo de la Energía (EDS), así como el Microanálisis Dispersivo de la Longitud De Onda (WDS) y la Difracción del Retrodifusor del Electrón (EBSD) es todo el inconsútil integrada en esta única plataforma universal. El INCA significa potencia y productividad. El sistema se ha diseñado y el usar construido durante 30 años de experiencia del microanálisis así como la entrada de información valiosa de la gente que utiliza este equipo para las aplicaciones reales.

Soluciones de la Plataforma del INCA

Las soluciones siguientes están disponibles como parte de la plataforma del INCA:

  • INCAEnergy para el Microanálisis del EDS en SEM
  • INCAEnergy TEM para el Microanálisis del EDS en un TEM
  • INCAFeature para el análisis de característica automatizado
  • INCASteel para la clasificación de las partículas extrañas de acero
  • Solución dedicada de INCAGSR para el análisis del residuo del Tiro de la Pistola
  • INCAWave para el Microanálisis de WDS
  • INCAEnergy+ para el Microanálisis combinado del EDS y de WDS
  • INCASynergy para el EDS combinado y EBSD
  • INCACrystal para el Microanálisis de EBSD
  • Canal 5 de HKL para el Microanálisis de EBSD

Fuente: Instrumentos Nanoanalysis de Oxford

Para más información sobre esta fuente visite por favor los Instrumentos Nanoanalysis de Oxford

Date Added: Oct 12, 2006 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 12:57

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