Analyse de Rayon X Sur Le Microscope Électronique de Lecture (SEM) et le Microscope Électronique de Boîte De Vitesses (TEM) Utilisant Le Système d'INCA Des Instruments d'Oxford

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Mouvement Propre
Solutions de Plate-forme d'INCA

Mouvement Propre

Le système de l'INCA des Instruments d'Oxford est la plate-forme principale mondiale pour l'analyse de Rayon X sur le Microscope Électronique de Lecture (SEM) et le Microscope Électronique de Boîte De Vitesses (TEM).

La technologie de Logiciel et de détecteur pour la Microanalyse Dispersive d'Énergie (EDS), ainsi que la Microanalyse Dispersive de Longueur D'onde (WDS) et la Diffraction Rétrodiffusion d'Électron (EBSD) sont toute sans faille intégrée dans cette plate-forme universelle unique. L'INCA veut dire l'alimentation électrique et la productivité. Le système a été conçu et utilisation établie sur 30 ans d'expérience de microanalyse avec la puissance d'entrée précieuse des gens qui utilisent ce matériel pour des applications réelles.

Solutions de Plate-forme d'INCA

Les solutions suivantes sont disponibles en tant qu'élément de la plate-forme d'INCA :

  • INCAEnergy pour la Microanalyse d'EDS sur un SEM
  • INCAEnergy TEM pour la Microanalyse d'EDS sur un TEM
  • INCAFeature pour l'analyse de caractéristique technique robotisée
  • INCASteel pour la catégorie des inclusions en acier
  • Solution dédiée d'INCAGSR pour l'analyse des résidus de Piqûre de Canon
  • INCAWave pour la Microanalyse de WDS
  • INCAEnergy+ pour la Microanalyse combinée d'EDS et de WDS
  • INCASynergy pour l'EDS combiné et l'EBSD
  • INCACrystal pour la Microanalyse d'EBSD
  • La Manche 5 de HKL pour la Microanalyse d'EBSD

Source : Instruments Nanoanalysis d'Oxford

Pour plus d'informations sur cette source visitez s'il vous plaît les Instruments Nanoanalysis d'Oxford

Date Added: Oct 12, 2006 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 12:34

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