Analisi ai raggi X sul microscopio elettronico a scansione (SEM) e microscopio elettronico a trasmissione (TEM)

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INCA Platform Solutions

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Oxford Instruments 'INCA sistema è la piattaforma leader mondiale per le analisi ai raggi X il microscopio elettronico a scansione (SEM) e microscopio elettronico a trasmissione (TEM).

Tecnologia software e rivelatore di microanalisi a dispersione di energia (EDS), così come microanalisi a dispersione di lunghezza d'onda (WDS) e diffrazione Backscatter Electron (EBSD) sono tutti perfettamente integrati in questa piattaforma universale. INCA significa potere e la produttività. Il sistema è stato progettato e costruito utilizzando oltre 30 anni di esperienza microanalisi insieme a un prezioso contributo da persone che utilizzano questa apparecchiatura per applicazioni reali.

INCA Platform Solutions

Le seguenti soluzioni sono disponibili come parte della piattaforma INCA:

  • INCAEnergy per microanalisi EDS su un SEM
  • TEM INCAEnergy per microanalisi EDS su un TEM
  • INCAFeature per l'analisi automatizzata caratteristica
  • INCASteel per la classificazione delle inclusioni in acciaio
  • INCAGSR soluzione dedicata per l'analisi dei residui colpo di pistola
  • INCAWave per Microanalisi WDS
  • + INCAEnergy combinato microanalisi EDS e WDS
  • INCASynergy combinato EDS e EBSD
  • INCACrystal per Microanalisi EBSD
  • HKL Canale 5 per Microanalisi EBSD

Fonte: Oxford Instruments Nanoanalysis

Per ulteriori informazioni su questa fonte si prega di visitare Oxford Instruments Nanoanalysis

Date Added: Oct 12, 2006

Last Update: 10. October 2011 09:16

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