Analisi di Raggi X Sul Microscopio Elettronico A Scansione (SEM) E sul Microscopio Elettronico Della Trasmissione (TEM) Facendo Uso Del Sistema di INCA Dagli Strumenti di Oxford

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Soluzioni della Piattaforma di INCA

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Il sistema dell'INCA degli Strumenti di Oxford è la piattaforma principale del mondo per l'analisi di Raggi X sul Microscopio Elettronico A Scansione (SEM) E sul Microscopio Elettronico Della Trasmissione (TEM).

La tecnologia del rivelatore e del Software per Microanalisi Dispersiva di Energia (EDS) come pure Microanalisi Dispersiva di Lunghezza D'onda (WDS) e la Diffrazione di Backscatter dell'Elettrone (EBSD) è tutta senza cuciture integrata in questa singola piattaforma universale. Potenza e produttività di mezzi di INCA. Il sistema è stato progettato ed usando sviluppato in 30 anni di esperienza di microanalisi insieme ad input apprezzato dalla gente che utilizza questa strumentazione per le applicazioni reali.

Soluzioni della Piattaforma di INCA

Le seguenti soluzioni sono disponibili come componente della piattaforma di INCA:

  • INCAEnergy per Microanalisi di EDS su SEM
  • INCAEnergy TEM per Microanalisi di EDS su un TEM
  • INCAFeature per analisi di funzionalità automatizzata
  • INCASteel per la classificazione delle inclusioni d'acciaio
  • Soluzione dedicata di INCAGSR per analisi del residuo dello Scatto della Pistola
  • INCAWave per Microanalisi di WDS
  • INCAEnergy+ per Microanalisi combinata di WDS e di EDS
  • INCASynergy per il EDS combinato e EBSD
  • INCACrystal per Microanalisi di EBSD
  • Manica 5 di HKL per Microanalisi di EBSD

Sorgente: Strumenti Nanoanalysis di Oxford

Per ulteriori informazioni su questa sorgente visualizzi prego gli Strumenti Nanoanalysis di Oxford

Date Added: Oct 12, 2006 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 12:39

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