Análise de Raio X No Microscópio de Elétron da Exploração (SEM) e no Microscópio de Elétron da Transmissão (TEM) Usando O Sistema do INCA Dos Instrumentos de Oxford

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Soluções da Plataforma do INCA

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O sistema do INCA dos Instrumentos de Oxford é a plataforma principal do mundo para a análise de Raio X no Microscópio de Elétron da Exploração (SEM) e no Microscópio de Elétron da Transmissão (TEM).

A tecnologia do Software e do detector para a Microanálise Dispersiva da Energia (EDS), assim como a Microanálise Dispersiva do Comprimento De Onda (WDS) e a Difracção do Backscatter do Elétron (EBSD) é toda integrada sem emenda nesta única plataforma universal. O INCA significa a potência e a produtividade. O sistema foi projectado e utilização construída sobre 30 anos de experiência da microanálise junto com a entrada valiosa dos povos que usam este equipamento para aplicações reais.

Soluções da Plataforma do INCA

As seguintes soluções estão disponíveis como parte da plataforma do INCA:

  • INCAEnergy para a Microanálise do EDS em SEM
  • INCAEnergy TEM para a Microanálise do EDS em um TEM
  • INCAFeature para a análise de característica automatizada
  • INCASteel para a classificação das inclusões de aço
  • Solução dedicada de INCAGSR para a análise do resíduo do Tiro da Arma
  • INCAWave para a Microanálise de WDS
  • INCAEnergy+ para a Microanálise combinada do EDS e do WDS
  • INCASynergy para o EDS combinado e o EBSD
  • INCACrystal para a Microanálise de EBSD
  • Canal 5 de HKL para a Microanálise de EBSD

Source: Instrumentos Nanoanalysis de Oxford

Para obter mais informações sobre desta fonte visite por favor Instrumentos Nanoanalysis de Oxford

Date Added: Oct 12, 2006 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 12:52

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