Анализ Рентгеновского Снимка На Электронном Кинескопе и (SEM) Просвечивающем Электронном Микроскопе Скеннирования (TEM) Используя Систему INCA От Аппаратур Оксфорда

Покрытые Темы

Предпосылка
Разрешения Платформы INCA

Предпосылка

Система INCA Аппаратур Оксфорда платформа мира ведущая для анализа Рентгеновского Снимка на Электронном Кинескопе и (SEM) Просвечивающем Электронном Микроскопе Скеннирования (TEM).

Технология ПО и детектора для Микроанализа Энергии Дисперсивного (EDS), так же, как Микроанализ Длины Волны Дисперсивного (WDS) и Огибание Backscatter Электрона (EBSD) все плавно интегрированные в эту одиночную всеобщую платформу. INCA значит силу и урожайность. Система была конструирована и построенное использование над 30 летами опыта микроанализа вместе с ценным входным сигналом от людей которые используют это оборудование для реальных применений.

Разрешения Платформы INCA

Следующие разрешения доступны как часть платформы INCA:

  • INCAEnergy для Микроанализа EDS на SEM
  • INCAEnergy TEM для Микроанализа EDS на TEM
  • INCAFeature для автоматизированного анализа характеристики
  • INCASteel для классифицирования стальных включений
  • Разрешение INCAGSR преданное для анализа выпарки Съемки Пушки
  • INCAWave для Микроанализа WDS
  • INCAEnergy+ для совмещенного Микроанализа EDS и WDS
  • INCASynergy для совмещенного EDS и EBSD
  • INCACrystal для Микроанализа EBSD
  • Канал 5 HKL для Микроанализа EBSD

Источник: Аппаратуры Nanoanalysis Оксфорда

Для больше информации на этом источнике пожалуйста посетите Аппаратуры Nanoanalysis Оксфорда

Date Added: Oct 12, 2006 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 12:54

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask regarding this article?

Leave your feedback
Submit