Анализ Рентгеновского Снимка На Электронном Кинескопе и (SEM) Просвечивающем Электронном Микроскопе Скеннирования (TEM)

Покрытые Темы

Предпосылка
Разрешения Платформы INCA

Предпосылка

Система INCA Аппаратур Оксфорда платформа мира ведущая для анализа Рентгеновского Снимка на Электронном Кинескопе и (SEM) Просвечивающем Электронном Микроскопе Скеннирования (TEM).

Технология ПО и детектора для Микроанализа Энергии Дисперсивного (EDS), так же, как Микроанализ Длины Волны Дисперсивного (WDS) и Огибание Backscatter Электрона (EBSD) все плавно интегрированные в эту одиночную всеобщую платформу. INCA значит силу и урожайность. Система была конструирована и построенное использование над 30 летами опыта микроанализа вместе с ценным входным сигналом от людей которые используют это оборудование для реальных применений.

Разрешения Платформы INCA

Следующие разрешения доступны как часть платформы INCA:

  • INCAEnergy для Микроанализа EDS на SEM
  • INCAEnergy TEM для Микроанализа EDS на TEM
  • INCAFeature для автоматизированного анализа характеристики
  • INCASteel для классифицирования стальных включений
  • Разрешение INCAGSR преданное для анализа выпарки Съемки Пушки
  • INCAWave для Микроанализа WDS
  • INCAEnergy+ для совмещенного Микроанализа EDS и WDS
  • INCASynergy для совмещенного EDS и EBSD
  • INCACrystal для Микроанализа EBSD
  • Канал 5 HKL для Микроанализа EBSD

Источник: Аппаратуры Nanoanalysis Оксфорда

Для больше информации на этом источнике пожалуйста посетите Аппаратуры Nanoanalysis Оксфорда

Date Added: Oct 12, 2006

Last Update: 11. January 2012 12:03

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask regarding this article?

Leave your feedback
Submit