スキャン (SEM) および伝達 (TEM) 電子顕微鏡の機能を拡張し、 Nanoscale で詳しい構造および化学情報を提供するオックスフォードの器械からの X 線分析および電子回折システム

Date Added: Oct 12, 2006 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 12:42

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