Системы Анализа и Дифракции Электронов Рентгеновского Снимка От Аппаратур Оксфорда Для того чтобы Расширить Возможности Электронных Кинескопов Скеннирования (SEM) и Передачи (TEM) и Обеспечить Детальную Структурную и Химическую Информацию На Nanoscale

Покрытые Темы

Предпосылка
Системы Анализа и Дифракции Электронов Рентгеновского Снимка
Микроанализ
     Системы EDS
     Системы WDS
Огибание Backscatter Электрона
     Канал 5
     INCACrystal
     INCASynergy

Предпосылка

Аппаратуры NanoAnalysis Оксфорда поставщик мира ведущий ситем анализа Рентгеновского Снимка которые обеспечивают детальную структурную и химическую информацию на micro и nanoscale.

Системы Анализа и Дифракции Электронов Рентгеновского Снимка

Системы анализа и дифракции электронов Рентгеновского Снимка мира компании ведущие обеспечивают критический химикат и структурную информацию, расширяя возможности Электронных Кинескопов Скеннирования (SEM) и Передачи (TEM).

Микроанализ

Системы EDS

ПО: Электроника: Детекторы

Системы WDS

ПО: Детекторы и Электроника

Огибание Backscatter Электрона

Канал 5

Автономный анализ EBSD

INCACrystal

Анализ EBSD используя платформу INCA

INCASynergy

Совмещенный EDS и EBSD в одной системе

Источник: Аппаратуры Nanoanalysis Оксфорда

Для больше информации на этом источнике пожалуйста посетите Аппаратуры Nanoanalysis Оксфорда

Date Added: Oct 12, 2006 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 12:54

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask regarding this article?

Leave your feedback
Submit