Magnetische StreuFELDVERMESSUNG Für die Bestimmung Von Bits In einer Festplatte Unter Verwendung der Magnetische Kraft-Mikroskopie-Darstellung Mit dem Nanosurf Bewegliches S Und Easyscan 2

Themen Umfaßt

Hintergrund

Festplatten-Speicher

Magnetische Kraft-Mikroskopie-Darstellung

Hintergrund

Magnetische Speicherung wurde zuerst von Valdemar Poulsen im Jahre 1898 erfunden, beantragte zuerst Audiozwecke auf einem Plastikstreifen im Deutschen Magnetophon im Jahre 1936 und hat, seit seine Erstbenutzung für Datenspeicher im Jahre 1951 entwickelte, um die wichtigsten Mittelwerte für Digitalspeicher in den modernen Computern zu werden, besonders in Form von Festplatten.

Festplatten-Speicher

Das Speichermedium der Festplatte hat zwei bevorzugte Magnetisierungsrichtungen. Das Magnetfeld des Festplattenschreibkopfs bestimmt in, welchem dieser Richtungen der Medium magnetisiert wird. Der Kopf schreibt eine und null, indem er aufhebt oder die Magnetisierungsrichtung des Mediums nicht in regelmäßigen Abständen aufhebt. Wo die Magnetisierung aufhebt, strömt ein magnetischer Streubereich vom Medium aus, der mit verschiedenen Mitteln entdeckt werden kann.

Magnetische Kraft-Mikroskopie-Darstellung

Das Nanosurf Bewegliches S und EasyScan 2 (mit Modusextension) können Bild der magnetische Streubereich im Aufnahmemodus MFM (Magnetische Kraft-Mikroskopie). In diesem Modus wird der Streubereich entdeckt, indem man die magnetische Kraft ermittlt, die er auf einer magnetisch überzogenen freitragenden Spitze ausübt. Diese Kraft verursacht eine Änderung in der freitragenden Resonanzfrequenz und verschiebt dadurch die Phase der freitragenden Schwingung. Das MFM-Bild wird durch das Aufzeichnen des Phasenkontrastbildes, wenn man ein Flugzeug scannt, das zur Oberfläche im gleichen Einbauort, aber einige parallel ist, nm weg von der Probe gemessen.

AZoNano - das A bis Z der Nanotechnologie - Oberflächentopographiemaß (dynamischer Kraftmodus). Die Aufzeichnungsspuren, wie im MFM-Bild bewiesen, Bodenlauf parallel zu den Nuten. Arbeitsbereich 2 ƒÊm  ~ 2 ƒÊm/Z Reichweite 5 nm

Abbildung 1. Oberflächentopographiemaß (dynamischer Kraftmodus). Die Aufzeichnungsspuren, wie im MFM-Bild bewiesen, Bodenlauf parallel zu den Nuten. Arbeitsbereich 2 ƒÊm  ~ 2 ƒÊm/Z Reichweite 5 nm

AZoNano - das A bis Z der Nanotechnologie - MFM-Maß (Phasenkontrastmodus). Weiße und schwarze Bereiche bedeuten Magnetisierungsumkehrung, in der Weiß für abstoßende Kräfte und Schwarzes für Anziehungskräfte steht. Arbeitsbereich 2 ƒÊm  ~ 2 ƒÊm/Phasenreichweite 5  ‹

Abbildung 2. MFM-Maß (Phasenkontrastmodus). Weiße und schwarze Bereiche bedeuten Magnetisierungsumkehrung, in der Weiß für abstoßende Kräfte und Schwarzes für Anziehungskräfte steht. Arbeitsbereich 2 ƒÊm  ~ 2 ƒÊm/Phasenreichweite 5  ‹

Die Maße, die hier gezeigt wurden, wurden mit einem Mobilen S Großen Scan-Kopf Nanosurf unter Verwendung Kragbalken NanoWorld MFMR genommen. Die Probe war ein einzelner Kopf 10GB 3,5" die Festplatte, die in der Fläche des Mediums mit einem Spurabstand von 600 nm und eine Bitlänge von 70 nm magnetisiert wurde, die 42k TPIS und 363k BPI entspricht.

Quelle: Nanosurf

Zu mehr Information über diese Quelle besuchen Sie bitte Nanosurf

Date Added: Oct 26, 2006 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 12:36

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