De Magnetische Verdwaalde Meting van het Gebied Voor de Bepaling Van Bits In een Harde Schijf die de Magnetische Weergave van de Microscopie van de Kracht Met Nanosurf Mobiel S En Easyscan 2 Gebruiken

Besproken Onderwerpen

Achtergrond

De Opslag van de Harde Schijf

De Magnetische Weergave van de Microscopie van de Kracht

Achtergrond

De Magnetische opslag werd eerst uitgevonden door Valdemar Poulsen in 1898, was eerst voor audiodoeleinden op een plastic strook in Duitse Magnetophon in 1936 van toepassing, en heeft aangezien zijn eerste gebruik voor gegevensopslag in 1951 om de belangrijkste middelen voor digitale opslag in moderne computers, in het bijzonder in de vorm van harde schijven evolueerde te worden.

De Opslag van de Harde Schijf

De opslagmiddelen van de harde schijf hebben twee preferentiële magnetiseringsrichtingen. Het magnetisch veld van de harde schijf schrijft het hoofd bepaalt waarin van deze richtingen het middel gemagnetiseerd is. Het hoofd schrijft degenen en nul door of niet het omkeren van de magnetiseringsrichting van het middel met regelmatige intervallen om te keren. Waar de magnetisering omkeert, is een magnetisch verdwaald veld van het middel afkomstig, dat door diverse middelen kan worden ontdekt.

De Magnetische Weergave van de Microscopie van de Kracht

Nanosurf Mobiel S en EasyScan 2 (met wijzeuitbreiding) kunnen beeld het magnetische verdwaalde veld op de MFM (de Magnetische Microscopie van de Kracht) weergavewijze. Op deze wijze, wordt het verdwaalde gebied ontdekt door de magnetische kracht te ontdekken het op een magnetisch met een laag bedekt cantileveruiteinde uitoefent. Deze kracht veroorzaakt een verandering in de frequentie van de cantileverresonantie en verplaatst daardoor de fase van de cantilevertrilling. Het beeld MFM wordt gemeten door het registreren van het beeld van het fasecontrast wanneer het aftasten van een vliegtuig parallel met de oppervlakte in de zelfde plaats, maar een paar nanometers vanaf de steekproef.

AZoNano - A aan Z van Nanotechnologie - de topografiemeting van de Oppervlakte (dynamische krachtwijze). De opnamesporen, zoals die in het MFM beeld, looppas blijk van worden gegeven van parallel met de groeven. Waaier 2 ƒÊm  ~ 2 ƒÊm van het Aftasten/de waaier van Z 5 NM

Figuur 1. De topografiemeting van de Oppervlakte (dynamische krachtwijze). De opnamesporen, zoals die in het MFM beeld, looppas blijk van worden gegeven van parallel met de groeven. Waaier 2 ƒÊm  ~ 2 ƒÊm van het Aftasten/de waaier van Z 5 NM

AZoNano - A aan Z van Nanotechnologie - meting MFM (de wijze van het fasecontrast). De Witte en zwarte gebieden impliceren magnetiseringsomkering, waar het wit afstotingskrachten en zwarte voor aantrekkingskracht betekent. Waaier 2 ƒÊm  ~ 2 ƒÊm van het Aftasten/waaier 5  ‹van de Fase

Figuur 2. Meting MFM (de wijze van het fasecontrast). De Witte en zwarte gebieden impliceren magnetiseringsomkering, waar het wit afstotingskrachten en zwarte voor aantrekkingskracht betekent. Waaier 2 ƒÊm  ~ 2 ƒÊm van het Aftasten/waaier 5  ‹van de Fase

De hier getoonde metingen werden genomen met een cantilevers van NanoWorld MFMR van het Aftasten van Nanosurf de Mobiele S Grote hoofd gebruikende. De steekproef was 10GB“ harde schijf enige hoofddie 3.5 in het vliegtuig van het middel met een spoorafstand wordt gemagnetiseerd van 600 NM en een bit lengte van 70 NM, die aan 42k TPI en 363k BPI beantwoordt.

Bron: Nanosurf

Voor meer informatie over deze bron te bezoeken gelieve Nanosurf

Date Added: Oct 26, 2006 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 12:31

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask regarding this article?

Leave your feedback
Submit