Coltello del Diamante Per la Micro Caratterizzazione del Tester del Graffio delle Fibre Ottiche Rivestite Facendo Uso di un Metodo di Prova dagli Strumenti di CSM

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Coltello del Diamante

Applicazione

Risultati

Lavori Futuri

Sfondo

Nel campo rapido crescente delle fibre ottiche per la telecomunicazione e la trasmissione dei dati, tali fibre sono spesso rivestite per le ragioni estetiche, protettive e strutturali come pure impedire l'intensità della luce della luce che è persa ai dintorni. Questi rivestimenti hanno solitamente spessori dell'ordine <500 il nanometro, le fibre che hanno un diametro di ~ 200mm.

Misure dei Beni Meccanici

Misurando i beni meccanici, in particolare l'aderenza fra il rivestimento e la fibra, è molto difficili a causa della geometria curva della superficie e dei problemi di posizionamento del suggerimento aguzzo del diamante in modo che si muova lungo l'asse longitudinale della fibra durante la prova di scalfittura.

Coltello del Diamante

Questo problema è stato risolto usando un coltello specialmente fabbricato del diamante con un angolo del suggerimento di 80°, sebbene altri angoli egualmente fossero stati provati. Il coltello (vedi che la Fig. 1) è fatta facendo uso di un diamante naturale di grande purezza con i suo [110] orientamenti lungo l'asse dell'aletta, della terra alla geometria desiderata e dell'angolo ed è montata su un troncone standard per adattarsi al Micro Tester del Graffio (MST) dagli Strumenti di CSM. La società che produce i coltelli è Diatome Srl,

Applicazione

Una selezione delle fibre ottiche che hanno rivestimenti metallici differenti è stata provata con il MST modificato. È stata trovata sufficiente per tenere saldamente i campioni legandoli con un nastro giù alla tabella piana del campione e lasciando una piccola sezione esposta per provare. La grande larghezza dell'aletta (parecchi millimetri) ha fatto il posizionamento del molto facile senza alcun rischio dell'aletta che scivola via il lato della fibra rivestita. Tuttavia, è stato trovato importante montare esattamente il perpendicolare dell'aletta alla fibra per assicurare i risultati riproducibili.

Un intervallo tipico del caricamento era 0 - 100 mn sopra una lunghezza di 5 millimetri, dando una rampa adeguata del caricamento ed i punti ben definiti dell'errore critico. La Microscopia Elettronica Di Scansione (SEM) dell'aletta di coltello prima e dopo uso ha confermato che nessun danno visibile si era presentato come conseguenza dello scratch nell'ambito del caricamento.

Figura 1.

(a)

(b)

(c)

Figura 2.

Risultati

I micrografi ottici nella Figura 2 mostrano i tipi differenti di errori del rivestimento incontrati facendo uso di questo metodo. Il rivestimento di 200 nanometro ha avuto due punti dell'errore critico; primo essere l'inizio di scheggia, secondo essere il punto a cui la scheggia continua comincia ed il substrato sono raggiunti. Entrambi I modi sono indicati nella Figura 2 (a). Per il rivestimento di 500 nanometro, scheggia non iniziale accaduta, il solo punto dell'errore critico che è dove il substrato è stato raggiunto. Tuttavia, è interessante notare che ai caricamenti maggiori di questo, incrinare e la delaminazione erano evidenti lungo i lati del percorso del graffio, come rappresentato in Figura 2 (c).

Lavori Futuri

Il riuscito uso di un coltello del diamante è stato indicato per un'applicazione industriale dove un tal metodo è quello solo capace adeguatamente di gestire l'aderenza fra tali rivestimenti e fibre ottiche dei diametri. I lavori futuri Sono preveduti con differenti angoli del coltello per studiare il loro potenziale per altre geometrie del campione che non possono essere misurate dalla tecnica convenzionale di MST.

Sorgente: Strumenti di CSM

Per ulteriori informazioni su questa sorgente visualizzi prego gli Strumenti di CSM

Date Added: Nov 30, 2006 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 12:39

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