Het Mes van de Diamant Voor de Karakterisering van het Micro- Meetapparaat van de Kras Van Met Een Laag Bedekte Optische Vezels die een Testmethode Van Instrumenten CSM Gebruiken

Besproken Onderwerpen

Achtergrond

De Mechanische Metingen van het Bezit

Het Mes van de Diamant

Toepassing

Resultaten

Toekomstige Werkzaamheden

Achtergrond

Op het snel het groeien gebied van optische vezels voor telecommunicatie en gegevenstransmissie, zijn dergelijke vezels vaak met een laag bedekt om esthetische, beschermende en structurele redenen, evenals om lichtintensiteit te verhinderen verliezend aan de omgeving. Deze deklagen hebben gewoonlijk dikten van de orde <500 NM, de vezels die een diameter van ~ 200mm hebben.

De Mechanische Metingen van het Bezit

Metend de mechanische eigenschappen, in het bijzonder zijn de adhesie tussen deklaag en de vezel, zeer moeilijk ten gevolge van de gebogen meetkunde van de oppervlakte en de problemen om een gericht diamantuiteinde te plaatsen zodat het zich langs de longitudinale as van de vezel tijdens een krastest beweegt.

Het Mes van de Diamant

Dit probleem is opgelost door een speciaal vervaardigd diamantmes met een uiteindehoek van 80° te gebruiken, hoewel andere hoeken ook zijn getest. Het mes (zie Fig. 1) wordt gemaakt gebruikend een high-purity natuurlijke diamant met zijn [110] richtlijn langs de as van het blad, grond aan de gewenste meetkunde en hoek, en op een standaardstomp voor montage aan het Micro- Meetapparaat van de Kras van (MST) Instrumenten CSM gewenst. Het bedrijf die de messen produceren is Diatome Ltd.,

Toepassing

Een selectie van optische vezels die verschillende metaaldeklagen hebben is getest met gewijzigde MST. Het werd voldoende gevonden om de steekproeven veilig te houden door hen aan de vlakke steekproeflijst neer vast te binden, en het verlaten van een kleine sectie stelde voor het testen bloot. De grote bladbreedte (verscheidene mm) maakte plaatsen zeer zonder enig risico van het blad die gemakkelijk de kant van de met een laag bedekte vezel wegglijden. Nochtans, werd het belangrijk gevonden om het blad precies op te zetten loodrecht aan de vezel om reproduceerbare resultaten te verzekeren.

Een typische ladingswaaier was van 0 tot Mn 100 over een lengte van 5 mm, die een adequate ladingshelling en duidelijk omlijnde kritieke mislukkingspunten geven. Elektronenmicroscopie van het Aftasten (SEM) Van het messenblad before and after gebruik bevestigde dat geen zichtbare schade als resultaat van het krassen onder lading was voorgekomen.

Figuur 1.

(a)

(b)

(c)

Figuur 2.

Resultaten

De optische micrografen in Figuur 2 tonen de verschillende soorten ontmoete deklaagmislukking gebruikend deze methode. De 200 NMdeklaag had twee kritieke mislukkingspunten; het eerste zijn het begin van scherf, het tweede zijn het punt waarop de ononderbroken scherf begint worden en het substraat bereikt. Beide wijzen worden getoond in Figuur 2 (a). Voor de 500 NMdeklaag, kwam geen aanvankelijke scherf voor, het enige kritieke mislukkingspunt die waar het substraat werd bereikt zijn. Nochtans, is het interessant om op te merken dat bij ladingen groter dan dit, barsten en de losmaking langs de kanten van de krasweg duidelijk waren, zoals afgeschilderd in Figuur 2 (c).

Toekomstige Werkzaamheden

Het succesvolle gebruik van een diamantmes is getoond voor een industriële toepassing waar zulk een methode enige geschikt om de adhesie tussen dergelijke deklagen en optische vezels van kleine diameters voldoende te controleren is. De Toekomstige werkzaamheden worden voorzien met verschillende messenhoeken om hun potentieel voor andere steekproefmeetkunde te onderzoeken die niet door de conventionele techniek kan worden gemeten MST.

Bron: Instrumenten CSM

Voor meer informatie over deze bron te bezoeken gelieve Instrumenten CSM

Date Added: Nov 30, 2006 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 12:31

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask regarding this article?

Leave your feedback
Submit