Probador del Endurecimiento y Microscopio Nanos Combinados de la Fuerza de la Exploración Para Investigar El Defecto de la Punta De Penetradores Comunes De los Instrumentos del CSM

Temas Revestidos

Antecedentes

Defectos de la Punta de Penetradores Comunes

Aplicación

Pixellation

Área de Contacto

Antecedentes

Aparte de proyección de imagen la impresión residual de un sangrado de márgenes, el SFM integrado que se monta en el Probador Nano del Endurecimiento de los Instrumentos del CSM (NHT) se puede también utilizar para controlar y para cuantificar el defecto de la punta y la simetría del penetrador usado. La punta real del penetrador, siendo fundido a una varilla vertical, se puede quitar fácilmente de la medición de NHT principal y colocar exactamente bajo objetivo de SFM.

Defectos de la Punta de Penetradores Comunes

Se ha mostrado que el defecto de la punta de penetradores comunes puede ser importante, especialmente en el caso de la geometría de Vickers, debido a las dificultades en esmerilar una pirámide cuadrado-basada a una punta adecuada. En cambio, la geometría piramidal trilátera del Berkovich termina naturalmente en una punta, así facilitando esmerilar de los diamantes que mantienen su agudeza mismo a las pequeñas escalas. La punta de Berkovich deserta, como caracterizado por el radio efectivo de la punta, están con frecuencia menos de 50 nanómetro en muchos de los mejores diamantes.

AZoNano - La A a Z de la Nanotecnología - imágenes de la microscopia de la fuerza de la Exploración penetradores del diamante de Vickers (a) y de Berkovich (b).

Cuadro 1. imágenes de Exploración de la microscopia de la fuerza penetradores del diamante de Vickers (a) y de Berkovich (b).

Aplicación

La Fig. 1 muestra dos imágenes de SFM de un Vickers y de un penetrador de Berkovich. Aunque el SFM tenga un rango vertical limitado, la mayoría de los nanoindentations son menos de 5 milímetros de profundizado, así que el instrumento está bien adaptado a la medición de la porción activa del penetrador. Además, la alta resolución del SFM permite que la información de la dimensión de una variable sean extraídas directamente de las imágenes, así como cualquier desviación de una geometría piramidal perfectamente sostenida. El trabajo Previo en este dominio ha mostrado que la función del área de un penetrador piramidal se puede calcular directamente de la información ganada de una imagen de SFM, después de corregir para los efectos de la dimensión de una variable del pixellation y de la antena de SFM.

Pixellation

Pixellation ocurre debido al hecho de que los datos de SFM están detectados en formulario digital y así que tiene un número finito de puntos de referencias. Por ejemplo, para una talla lateral de la exploración de 20 milímetros, y de usar el número máximo de puntas por la línea (512), la separación entre cada punto de referencias será 20000/512 = 39 nanómetro. Esto significa que una imagen de un penetrador piramidal típico de hecho será compuesta de pasos de progresión de la separación lateral 39 nanómetro.

Área de Contacto

Si se va el área de contacto a ser calculada de tales datos entonces que ésta puede producir desvío importante, y así que las diversas rutinas de la corrección deben ser utilizadas. Obviamente, este efecto está también presente en imágenes de SFM de impresiones residuales y debe ser tenido en cuenta si se van los volúmenes del montón-hacia arriba o las áreas de contacto a ser calculados.

Fuente: Instrumentos del CSM

Para más información sobre esta fuente visite por favor los Instrumentos del CSM

Date Added: Dec 5, 2006 | Updated: Dec 2, 2014

Last Update: 9. December 2014 20:00

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