Tester di Durezza e Microscopio Nani Combinati della Forza di Scansione Per lo Studio Del Difetto del Suggerimento Dei Penetratori Comuni Dagli Strumenti di CSM

Argomenti Coperti

Sfondo

Difetti del Suggerimento dei Penetratori Comuni

Applicazione

Pixellation

Area di Contatto

Sfondo

Oltre alla rappresentazione l'impronta residua di una dentellatura, lo SFM integrato che è montato sul Tester Nano di Durezza degli Strumenti di CSM (NHT) può anche essere usata per controllare e quantificare il difetto del suggerimento e la simmetria del penetratore usato. Il suggerimento reale del penetratore, essendo fondendo ai bastoncini verticali, può essere rimosso facilmente dalla misurazione di NHT capa ed essere posizionato esattamente nell'ambito dell'obiettivo di SFM.

Difetti del Suggerimento dei Penetratori Comuni

È stato indicato che il difetto del suggerimento dei penetratori comuni può essere significativo, particolarmente nel caso della geometria di Vickers, a causa delle difficoltà nella macinazione della piramide basata a quadrato ad un suggerimento adeguato. Al contrario, la geometria piramidale trilaterale del Berkovich termina naturalmente ad un punto, così facilitando la macinazione dei diamanti che mantengono la loro nitidezza molto alle piccole scale. I difetti del suggerimento di Berkovich, come caratterizzati dall'efficace raggio del suggerimento, sono frequentemente meno di 50 nanometro in molti di migliori diamanti.

AZoNano - A - Z di Nanotecnologia - immagini di microscopia della forza di Scansione di Vickers (a) e di Berkovich (b) penetratori del diamante.

Figura 1.

Applicazione

La Fig. 1 mostra due immagini di SFM di un Vickers e di un penetratore di Berkovich. Sebbene lo SFM abbia un intervallo verticale limitato, la maggior parte dei nanoindentations sono approfonditi meno di 5 millimetri, in modo dallo strumento è ben adattato alla misura della parte attiva del penetratore. Inoltre, l'alta risoluzione dello SFM permette che le informazioni di forma siano estratte direttamente dalle immagini come pure tutta la deviazione dalla geometria piramidale perfettamente marcata. Il lavoro precedente in questo dominio ha indicato che la funzione di area di un penetratore piramidale può direttamente essere calcolata da informazioni ottenute da un'immagine di SFM, dopo avere corregto gli effetti di forma della sonda di SFM e di pixellation.

Pixellation

Pixellation accade dato che i dati di SFM si acquistano nel modulo digitale ed in modo da ha un numero limitato dei punti di informazioni. Per esempio, per una dimensione laterale di scansione di 20 millimetri e di per mezzo del numero massimo dei punti per riga (512), la separazione fra ogni punto di informazioni sarà 20000/512 = 39 nanometro. Ciò significa che un'immagine di un penetratore piramidale tipico in effetti si comporrà dei punti della separazione laterale 39 nanometro.

Area di Contatto

Se l'area di contatto deve essere calcolata da tali dati poi che questa può produrre l'errore significativo ed in modo dalle varie routine di correzione devono essere usate. Ovviamente, questo effetto è egualmente presente nelle immagini di SFM delle impronte residue e dovrebbe essere considerato se i volumi del tamponamento a catena o le aree di contatto devono essere calcolati.

Sorgente: Strumenti di CSM

Per ulteriori informazioni su questa sorgente visualizzi prego gli Strumenti di CSM

Date Added: Dec 5, 2006 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 12:39

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask regarding this article?

Leave your feedback
Submit