Verificador da Dureza e Microscópio Nano Combinados da Força da Exploração Para Investigar O Defeito da Ponta De Indenters Comuns Dos Instrumentos do CSM

Assuntos Cobertos

Fundo

Defeitos da Ponta de Indenters Comuns

Aplicação

Pixellation

Área de Contacto

Fundo

Independentemente da imagem lactente a impressão residual de um recorte, o SFM integrado que é montado no Verificador Nano da Dureza dos Instrumentos do CSM (NHT) pode igualmente ser usada para verificar e determinar o defeito da ponta e a simetria do indenter usado. A ponta real do indenter, sendo fundido a uma haste vertical, pode facilmente ser removida da medição de NHT principal e ser posicionada exactamente sob o objetivo de SFM.

Defeitos da Ponta de Indenters Comuns

Mostrou-se que o defeito da ponta de indenters comuns pode ser significativo, especialmente no caso da geometria de Vickers, devido às dificuldades em mmoer uma pirâmide quadrado-baseada a uma ponta adequada. Ao contrário, a geometria piramidal três-tomada partido do Berkovich termina naturalmente em um ponto, assim facilitando a moedura dos diamantes que mantêm sua agudeza muito às pequenas escalas. A ponta de Berkovich defects, como caracterizado pelo raio eficaz da ponta, são freqüentemente menos de 50 nanômetro em muitos dos diamantes melhores.

AZoNano - O A a Z da Nanotecnologia - imagens da microscopia da força da Exploração indenters do diamante de Vickers (a) e de Berkovich (b).

Figura 1.

Aplicação

O Fig. 1 mostra duas imagens de SFM de um Vickers e de um indenter de Berkovich. Embora o SFM tenha uma escala vertical limitada, a maioria de nanoindentations têm menos de 5 milímetros detalhados, assim que o instrumento é poço - serido à medida da parcela activa do indenter. Além, a alta resolução do SFM permite que a informação da forma sejam extraídos directamente das imagens, assim como todo o desvio de uma geometria piramidal perfeitamente afiada. Os Trabalhos anteriores neste domínio mostraram que a função da área de um indenter piramidal pode directamente ser calculada da informação ganhada de uma imagem de SFM, após a correcção para os efeitos da forma do pixellation e da ponta de prova de SFM.

Pixellation

Pixellation ocorre devido ao facto de que os dados de SFM estão adquiridos no formulário digital e assim que tem um número finito de pontos de dados. Por exemplo, para um tamanho lateral da varredura de 20 milímetros, e de usar o número máximo de pontos pela linha (512), a separação entre cada ponto de dados será 20000/512 = 39 nanômetro. Isto significa que uma imagem de um indenter piramidal típico estará compo de facto das etapas da separação lateral 39 nanômetro.

Área de Contacto

Se a área de contacto deve ser calculado de tais dados então que esta pode produzir o erro significativo, e assim que as várias rotinas da correcção devem ser usadas. Obviamente, este efeito está igualmente actual em imagens de SFM de impressões residuais e deve ser levado em consideração se os volumes da pilha-acima ou as áreas de contacto devem ser calculado.

Source: Instrumentos do CSM

Para obter mais informações sobre desta fonte visite por favor Instrumentos do CSM

Date Added: Dec 5, 2006 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 13. June 2013 12:52

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